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[射频芯片] RF信号上GHz后调试以及测试相关方法探讨

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实习生

 楼主| 发表于 2017-7-12 14:04 | 显示全部楼层 |返回版面||阅读模式
RF信号上了GHz后感觉不好测试了,测试很易受干扰,比如测试2.4GHz的PCB天线的时候,采用单头SMA跳线焊接上去,SMA头一端接仪器,另一端焊接在PCB天线馈电点,而如果跳线长短不一,测出来的中心频点就不同。这样对测试天线就没效果了,你不知道实际天线跟理论出来的具体相差多少。后来我想到一种方法,将跳线等效为一个器件,我先保证有一个为50欧姆阻抗的负载,并将负载通过SMA头接到微带线上,微带线为50欧姆特性阻抗,并且微带线一头通过SMA接50欧姆负载,另一头SMA接仪器测出阻抗为50欧姆,然后取下微带线一头的SMA头,将跳线直接焊接在这一头上。再用仪器测阻抗,这时不同长度的跳线测出来的阻抗不同,这时可以将跳线等效为一个器件(一般为电容),在测试天线的时候将这个器件同步等效进去得出实际天线的测试结果。或者是继续改变跳线长度,直到测出负载的阻抗为50欧姆时,这时跳线可以等效其特性阻抗为50欧姆,那么在测试天线的时候就不用再将跳线等效为器件了,直接测即可。不知道这种方法是否有问题,我感觉这种方法一太繁琐,二在焊接的时候端口是不同的,端口转换可能也是一个不好处理的问题,跳线是同轴电缆结构与微带线结构不同,还是跟SMA头有差别。
不知道论坛里有没有测试调试的大拿,对这方面有了解的,忘不吝赐教,交流。
     

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发表于 2017-7-12 15:53 | 显示全部楼层 |返回版面
     

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坛主

发表于 2017-7-13 12:06 | 显示全部楼层 |返回版面
不是容易受到干扰,而是分布参数的影响随着频率的上升而上升,这种上升甚至不是线性的,而是呈指数型上升。知道了原因就该明白,测试要尽量避免引入分布参数,所以探头之类非常重要,测试很讲究方法,除了用专业仪器直接测量外,应尽量用非接触法来测量。
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实习生

 楼主| 发表于 2017-7-13 20:13 | 显示全部楼层 |返回版面
那么有没有啥具体对上G频率信号的调试手段呢?感觉目前测试出来的结果都不可靠。
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