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楼主: xmh_1
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GD32F190使用一段时间后出现外部晶体不振

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实习生

发表于 2017-10-10 17:21 | 显示全部楼层 |返回版面
本帖最后由 onz 于 2017-10-10 17:36 编辑
xmh_1 发表于 2017-9-6 09:25
有道理,看技术资料有的说串接一个电阻限制一下放大幅度,我现在直接就用内部晶体了,连续通电100个小时了 ...

以前用stm也偶尔碰到类似问题。外部晶振很皮实,不易坏,所以个人判断是驱动电流过大烧坏MCU内部电路,于是直接串接1k电阻限流(其实不用这么大值,因为阻值越大,不但振荡波幅越小,而且波形越扭曲了,不过波形扭曲并不影响驱动出来的数字频率精度),后来产品一直没有在这个地方坏过。
对于振荡电路中这个串接电阻值的计算,窃以为术业有专攻,不必深究,照搬前人的工作即可。

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资深工程师

发表于 2017-10-13 22:39 | 显示全部楼层 |返回版面
工作一段时间后出的问题的,证明是软件设计上问题不大的

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资深工程师

发表于 2017-10-15 21:00 | 显示全部楼层 |返回版面
这个估计还是晶振稳定性的问题的
后来乍到,前辈们多多包涵了啊。。

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中级工程师

发表于 2017-10-15 21:31 | 显示全部楼层 |返回版面
楼上几位说的都有道理的,这里还需要检查下与晶振匹配的容抗的设计的
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