可控硅输出干扰热电偶测量

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zhxingyu|  楼主 | 2017-12-5 23:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
可控硅输出端(AC 220V)经电阻降压反馈给单片机AD输入端测量输出电压幅度,由于需要测量此电压整个单片机测量系统的GND为热地,单片机另一AD输入端接热电偶测量,当可控硅输出就会干扰热电偶的测量,测量温度会随可控硅输出升高3~4度,怀疑是热电偶输入电路同市电共地相互干扰了,有什么好的方法解决这类干扰吗?谢谢!

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zyj9490| | 2017-12-5 23:32 | 显示全部楼层
是传导还是 埸耦合的,输入端要进行低通滤滤波处理或数字滤波处理,还要外面加屏BI.

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chunyang| | 2017-12-6 12:06 | 显示全部楼层
如果不是可控硅调相,只是起个常开、常闭开关的作用,那么可控硅根本不会带来干扰,干扰要么来自他处,要么根本就不是什么干扰,而是设计的错误。

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zhxingyu|  楼主 | 2017-12-6 13:49 | 显示全部楼层
chunyang 发表于 2017-12-6 12:06
如果不是可控硅调相,只是起个常开、常闭开关的作用,那么可控硅根本不会带来干扰,干扰要么来自他处,要么 ...

是可控硅调相

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cjseng| | 2017-12-6 15:50 | 显示全部楼层
我来做的话,就再增加一个单片机,用来测量电压,用光耦隔离和主控串行通讯。

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cauhorse| | 2017-12-6 16:00 | 显示全部楼层
可以换用其他热电偶或使用其他种类的温度探头,比如铂热电阻测温,比对一下,看看能不能复现“温度变化”的问题;
如果换了测温方法,现象不再,可以检查一下热电偶探头的布置方式,如电偶控头外壳是金属铠装,看看里装的电偶双金属结点是否和外壳搭上;
如果探头外壳接地,则检查一下热电偶调理电路或模块的供电方式,其电源地是否可靠地与单片机系统的电源地相连。

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chunyang| | 2017-12-8 11:27 | 显示全部楼层

可控硅调相的干扰很大,如果是大惯性的热控制,用过零触发可控周期法来实现,这样就没有调相干扰了,否则要从整体设计上下功夫,不是加个什么滤波器就能解决的。

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资深技术| | 2017-12-8 11:31 | 显示全部楼层
改设计吧

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yuanzhoulu| | 2017-12-9 20:53 | 显示全部楼层
是不是布线引起的?热电偶电阻很小,好像干扰没那么严重,但是热电偶输出电压也很小,没具体搞过,只是这么想。把负载改成小功率灯泡看看测温有没有改善,如果有改善就是布线问题,电流引起的干扰。如果无改善,那就是电压感应引起的干扰。

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盖茨比| | 2017-12-23 21:22 | 显示全部楼层
请问有什么单片机的地可以是热地?

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盖茨比| | 2017-12-23 21:24 | 显示全部楼层
请问什么型号的单片机的地可以是热地

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vhdlcpld| | 2017-12-23 22:20 | 显示全部楼层
本帖最后由 vhdlcpld 于 2017-12-23 22:35 编辑

也可以弄个电压互感器隔离一下,电压互感器在电能表里用的比较多。

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zhaohe2001| | 2017-12-25 16:11 | 显示全部楼层
如果可控硅也是由单片机控制的话,在AD采样要避开开关时刻,最好在可控硅两次动作的中间采样,可避免干扰

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