几种带12位ADC单片机ADC性能比较

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ztb|  楼主 | 2018-9-13 14:50 | 显示全部楼层
本帖最后由 ztb 于 2018-9-13 15:08 编辑

更多路ADC.png
具有更多路数的12位ADC单片机,前面一个各方面数据都比较均衡,后面的积分误差微分误差都最小,可整体误差太大.

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ztb|  楼主 | 2018-9-13 14:57 | 显示全部楼层
本帖最后由 ztb 于 2018-9-13 15:44 编辑

当前正在做一个需要50路模拟量采集的项目,传统做法是采用单独的ADC芯片加大量的CD4051.如今带12位ADC的单片机这么便宜.用带有多路(最多17路,23路)的单片机岂不是更方便.所有才又了在几种单片机之间选择的问题.

项目要求的测量精度并不高1%,工作环境基本恒温25℃.但是测量范围太大(2mA分辨力<0.5uA).打算用过采样来换取更高的分辨率,如此就对单片机的ADC有一个选择了.我的倾向是选择 DLE和ILE 都比较小的. 偏移误差(类似失调电压)也要小.这样在过采样后可以在小信号端获得更高的分辨率.

到底哪家的ADC性能更合适呢?

我对几种误差的理解:
微分误差DLE ,就好吧一把尺,上面的刻度是否均匀. 当然是越均匀 DLE就越小.
积分误差ILE ,它是微分误差累积的结果,表现为线性好不好.就好吧一把尺用是塑料膜做的,局部可能被拉伸.
偏移量误差EZ,对应于运放就好比是输入失调电压,输入信号为0时,输出不是零,如果EZ是稳定的在AD结果中减去这个零点值就不是问题.
满刻度误差EF,还是一把尺,它的刻度足够均匀,线性也很好可就是全长比人家标准的尺短一点.如果这个差是稳定的,通过乘以一个固定的系数可以修正也不是问题.
总绝对误差EAD,字面上理解是所有的误差都综合后的数值吧? 没有找到对它的明确定义.
我这里抛砖引玉,希望明白人指点迷津!

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