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芯片测试控温系统运行概述

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无锡冠亚|  楼主 | 2019-2-18 16:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
随着科技的发展,芯片测试控温系统也在实际运行中不断推广,芯片测试在一定温度要求下对其精度有着相当高的要求,那么,对于芯片测试系统有什么了解呢?
芯片测试在低温环境下需要较高的温度精度,以确保电性参数的测试准确度。通常情况下,芯片测试的温度控制单纯由自动化送料机进行控制,这种控制方式是基于制冷的控制方式,虽然能够比较准确的保证芯片所在测试腔体的整体温度,但是并不能及时感知由于测试过程中芯片功耗发热引起的温度变化,不能实时控制芯片所在测试插槽的温度,从而影响芯片的测试良品率。
芯片测试基于半导体制冷器件在原有的制冷的大环境下,搭建一种基于闭环反馈的稳定性更高的低温测试温度补偿控制系统,该系统利用半导体制冷器件,结合原有测试系统的资源,对芯片低温测试环境进行实时的局部温度补偿,从而实现高精度的恒温控制,保证芯片测试的良品率。

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leglg| | 2019-3-19 10:09 | 显示全部楼层
半导体制冷器件有参考型号吧

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