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芯片参数--输入电容的测试

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静待沉淀|  楼主 | 2020-1-6 23:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
各位大神,小弟有最近看规格书,有几个问题想请教一下各位

就是附件图片红框中的参数,输入电容,按照规格书的说法就是,需要给芯片供电,然后端口也要供电或者接地,在以上的两个条件下测试的输入电容值。
然后我的疑惑就是,供电是可以理解,但是端口的电平就不大理解了。首先我们用LCR电表测试的时候,是给一个信号进行测试电容,如果端口有电平(高或者低)那还怎么测试?
或者这个参数有其他的测试方法,小弟不大理解,所以想请教一下各位

红框的参数

红框的参数

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xmar| | 2020-1-7 09:28 | 显示全部楼层
由于端口内部通常存在保护二极管,二极管施加不同电压,其结电容大小就不同。所以需要确定端口的电压。

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静待沉淀|  楼主 | 2020-1-8 20:42 | 显示全部楼层
xmar 发表于 2020-1-7 09:28
由于端口内部通常存在保护二极管,二极管施加不同电压,其结电容大小就不同。所以需要确定端口的电压。 ...

那使用LCR电桥需要怎么测试,端口要给电压,那我怎么给端口输入信号进行测试,不同电压之间不会对测试设备有损坏吗

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戈卫东| | 2020-1-8 21:58 | 显示全部楼层
这种数字电路一般不要去测电容。
测测功耗延迟极限工作频率就差不多了。

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静待沉淀|  楼主 | 2020-1-8 22:41 | 显示全部楼层
戈卫东 发表于 2020-1-8 21:58
这种数字电路一般不要去测电容。
测测功耗延迟极限工作频率就差不多了。 ...

这些参数有测试,但是就是想了解一下这个输入电容的测试方法,感觉和测试普通无源器件有所不同,输入端口如果有电平,那我测试的探头的输出信号会不会受影响,那会不会损坏我的探头,这个不大理解。

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yanwen217| | 2020-1-11 09:49 | 显示全部楼层
静待沉淀 发表于 2020-1-8 22:41
这些参数有测试,但是就是想了解一下这个输入电容的测试方法,感觉和测试普通无源器件有所不同,输入端口 ...

有些参数,实际就不是测试出来的,是设计时跑仿真出来的结果。
因为没办法测试

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yanwen217 2020-1-14 09:58 回复TA
@静待沉淀 : 是仿真值,或者说就是foundry厂给出来的数据 
静待沉淀 2020-1-14 00:33 回复TA
不好意思,回复的有点晚,那规格是给出的测试条件难道是仿真用的吗? 
静待沉淀|  楼主 | 2020-1-14 00:32 | 显示全部楼层
yanwen217 发表于 2020-1-11 09:49
有些参数,实际就不是测试出来的,是设计时跑仿真出来的结果。
因为没办法测试 ...

不好意思,回复晚了,那规格书给出的测试条件,难道是仿真用的吗?

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GavinZ| | 2020-1-16 09:46 | 显示全部楼层
我认为跟测普通电容的方法一样。普通电容也得在bias电压下测试。

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静待沉淀|  楼主 | 2020-1-17 23:31 | 显示全部楼层
GavinZ 发表于 2020-1-16 09:46
我认为跟测普通电容的方法一样。普通电容也得在bias电压下测试。

测试普通电容的时候,是通过电桥给一个交流信号,但是给了高电平后,这种条件是怎么做到的

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