凯智通 LGA60翻盖探针转DIP48测试座，
产品简介
1. 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH；
2. LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿 命的10倍以上；并且探针可更 换，维修方便，成本低；
6. 采用手动翻盖式结构，操作方便；
7. 上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
8. 高精度的定位槽，保证LGA定位精确，生产效率高；
9. 整机24小时工作性能稳定可靠，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手！
10. 探针材料：铍铜(标准)；
11.绝缘材料：FR-4、PPS等；
产品功能
1. 对Flash进行清空及分类挑选。
2.对Nand Flash进行格式化，测试实际可以用容量。
3.对Flash进行直接量产，提高U盘生产效率。
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