PC equ 0x02
kk equ 0x08
LCDAddr equ 0x0A
LCDDate equ 0x0B
P5 equ 0x05
P6 equ 0x06
;;=================================================================================================
TestBegin:
Loop:
mov A,kk ; 数码管显示
mov P6,A
mov A,@0xF0
call delay
mov A,@0xFB ; 放电
iow P5
clr P5 ; P52为输出口，然后置低电平，可以非常快速的放电
mov A,@0x10 ; 延时一下保证充分放电
call delay
mov A,@0xFE ; 切换P50口为输出口，准备充电(这个是参考用的标准电阻，一般用5环)
iow P5
mov A,@0x01 ; 置1，高电平，对电阻R1充电
mov P5,A
/*
不断的读端口，因为RC充电需要时间，所以不同电阻充电时间不同，这个就是普通端口测NTC的原理
不过这里我有问题问一下，如果这个过程发生中断怎么办？误差会相当的大
另外，KK只是一个 8位的计数器，如果计数溢出怎么办？
如果两次测试数据位于 255 两侧，例如，这次是 260 ，则因为溢出而重置为 5
而下一次测出为 250 ，那么这两个数据就“囧”了
*/
clr kk
LL: jbc P5,2
jmp Loop1
inc kk
jmp LL
Loop1:
mov A,kk ; 数码管显示
mov P6,A
mov A,@0xF0
call delay
mov A,@0xFB ; 放电，跟上面一样
iow P5
clr P5
mov A,@0x10
call delay
mov A,@0xFD ; 这次轮到 P51 为输出口了，因为我们需要对代测电阻充电
iow P5
mov A,@0x03 ; P51高电平，RV 立刻充电，然而楼主顺便将P50也置1了，
; 所以示波器会看到立刻变成高电平，而不是充电
mov P5,A
clr kk
LL1:
jbc P5,2 ; 跟上面一样，等待高电平，计数。
jmp Loop
inc kk
jmp LL1
delay:
mov kk,A
delay_L:
djz kk
jmp delay_L
ret
|
楼主
标题置顶
标题高亮
