什么原因导致老化过程重复开机？
这两天发现老化电源（CV）的时候出现重启现象，老化过程电源是通过上位机下发CAN指令进行老化的，并且这款电源都已经量产一年半多了，最近发现已经有十几台机器出现这种异常现象。后来抽取其中一台测试在实验室测试，监控MCU的打印信息，打印没有任何异常机器在满载跑着的过程就突然重启了，打印信息显示“系统重新初始化，然后开机”，是什么可能性的原因导致这种异常情况呢？这个需要研发支持，重启时打印复位状态，上电复位、WDT复位、LVD复位、指令复位等等，看看MCU内部寄存器信息 很简单，被干扰了呗 steelen 发表于 2022-5-28 17:16
很简单，被干扰了呗
那么都有哪些比较严重的干扰因素会造成这种情况，电磁干扰还是谐波干扰？ 也许短时间停电了呢 cjseng 发表于 2022-5-29 11:38
也许短时间停电了呢
不知什么意思？是说有可能是短时间内掉电导致的吗？ 王栋春 发表于 2022-5-29 11:48
不知什么意思？是说有可能是短时间内掉电导致的吗？
掉电了不就重启了吗？ cjseng 发表于 2022-5-29 12:10
掉电了不就重启了吗？
的确是一种可能，不过这种情况已经排除在外了。 楼主所谓的老化试验是怎么个测试方法？只是简单的长时间烤机老化？还是高低温老化？等等… 天意无罪 发表于 2022-5-30 08:11
楼主所谓的老化试验是怎么个测试方法？只是简单的长时间烤机老化？还是高低温老化？等等… ...
我们采用的是长时间老化测试法，不知两种方法有什么禁忌？ 也许与MCU的复位（Reset）脚外围电路有关。如果是电阻R、电容C类型的复位电路，减小R试一试。 xmar 发表于 2022-5-30 09:15
也许与MCU的复位（Reset）脚外围电路有关。如果是电阻R、电容C类型的复位电路，减小R试一试。 ...
好的，谢谢坛友赐教。 王栋春 发表于 2022-5-30 09:07
我们采用的是长时间老化测试法，不知两种方法有什么禁忌？
那你这个只是长时间运行拷机老化试验，长时间运行考验的就是软硬件的稳定性了，你提到满载，可以监测一下电源质量和复位信号，看是不是电源引起的。 天意无罪 发表于 2022-5-30 09:31
那你这个只是长时间运行拷机老化试验，长时间运行考验的就是软硬件的稳定性了，你提到满载，可以监测一下 ...
好的，还有同行说可以采用高温通电老化实验，不知可以吗？又是什么意思？ WDT复位？ RST管脚电平变了？ 信息严重不足，无法判断。不妨先弄清重启发生的条件，先进行统计，发现与之关联的触发条件再有针对性的进行分析。
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