开关损耗测试方案中的示波器探头应用
本帖最后由 普科科技PRBTEK 于 2022-7-21 11:33 编辑如今的开关电源技术很大程度上依托于电源半导体开关器件，如MOSFET和IGBT。这些器件提供了快速开关速度，能够耐受没有规律的电压峰值。同时在On或Off状态下小号的功率非常小，实现了很高的转化效率，热损耗极低。开关设备极大程度上决定了SMPS的整体性能。开关器件的损耗可以说是开关电源中最为重要的一个损耗点，课件开关损耗测试是至关重要的。本文仅就开关损耗测试方案中的探头应用进行介绍。上图使用MSO5配合THDP0200及TCP0030A等探头。以上方案中通过示波器专门的开关损耗算法，配合泰克探头，完美补偿探头延迟，减少了开关损耗运算过程中产生的误差。测试结果极为可靠。TCP0030A及THDP0200参数：探头外观图https://p2.itc.cn/images01/20220609/58ecb3db0bb0410d924a93d6b537f0bc.pngTCP0030Ahttps://p2.itc.cn/images01/20220609/fa3f56e402a54b739b83d009665baa6c.pngTHDP0200附：常见参数介绍1、带宽，代表了探头可测到的最大信号频率2、共模抑制比，代表了探头抑制共模干扰的能力，越大代表抑制能力越强3、输入电容，代表探头对于被测系统的负载影响，输入电容越低，影响越小测试效果越好。
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