如何测试单片机MCU系统的可靠性？
Hi 大家好！http://uphotos.**/emotion/jx2/j_0063.gif用什么方法来测试单片机系统的可靠性，当一个单片机系统设计完成，对于不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法，但是有一些是必须测试的。
下面分享我的一些经验：
1、测试单片机软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试，测试软件是否写的正确完整。
2、上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况，可以进行多次开关电源，测试单片机系统的可靠性。
3、老化测试。测试长时间工作情况下，单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温，高压以及强电磁干扰的环境下测试。
4、ESD和EFT等测试。可以使用各种干扰模拟器来测试单片机系统的可靠性。例如使用静电模拟器测试单片机系统的抗静电ESD能力；使用突波杂讯模拟器进行快速脉冲抗干扰EFT测试等等。
还可以模拟人为使用中，可能发生的破坏情况。例如用人体或者衣服织物故意摩擦单片机系统的接触端口，由此测试抗静电的能力。用大功率电钻靠近单片机系统工作，由此测试抗电磁干扰能力等。
我们如何测试软件是否写的正确完整呢？有具体的介绍吗 老化测试并不是我们一般人就可以做的测试吧 我们使用静电模拟器进行测试的时候有没有可能对单片机造成无法恢复的破坏呢 xiaoqizi 发表于 2023-5-17 15:57
我们使用静电模拟器进行测试的时候有没有可能对单片机造成无法恢复的破坏呢 ...
个人认为这个都是有规范的对于电压等级以及时间肯定有规定 哪一种测试是我们平时就可以做的呢
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