PWM控制NMOS开关电路发热一般是怎么回事?
PWM控制NMOS开关电路发热一般是怎么回事?没有完全打开吗?看看波形是不是发生了形变。 PWM频率过高导致管子频繁开关会增加功耗,另外PWM驱动能力不够导致管子无法快速关断也会增加功耗 锵才才 发表于 2025-3-13 17:13
PWM频率过高导致管子频繁开关会增加功耗,另外PWM驱动能力不够导致管子无法快速关断也会增加功耗 ...
另外IO设置为哪个模式合适呢?开漏、推挽、准双向?哪个合适?
看MOS管的数据手册,看你MCU的IO驱动能力能不能完全达到MOS管的要求 gejigeji521 发表于 2025-3-14 14:25
另外IO设置为哪个模式合适呢?开漏、推挽、准双向?哪个合适?
开漏要加上拉电阻,切换速度稍慢,但隔离性好。推挽切换速度快,驱动能力也不错,一般建议用推挽,准双向似乎是用于特定的I/O 频繁的开关会使 NMOS 发热严重。 NMOS在PWM信号控制下频繁开关,当栅极驱动电压上升/下降速度不足时,开关过程会变慢,导致NMOS在导通和截止状态之间存在半导通区(此时电阻较大),产生较大功率损耗。 在开关过程中会通过米勒效应放大漏极电压变化,导致栅极电压振荡,延长开关时间,增加损耗。 如果选用的NMOS导通电阻过大,或驱动电流不足导致NMOS未完全导通,损耗会显著增加。 栅极驱动能力不足驱动电流过小,导致栅极电压上升/下降速度慢,开关时间延长。 负载电流超过NMOS的额定电流,导致过大的导通损耗。 超过NMOS的耐压值,可能引发雪崩击穿,产生大量热量。 封装散热能力不足,或PCB布局不合理,导致热量无法有效散发。 PCB走线寄生电感、电容在高频开关时产生振荡,增加损耗。 PWM信号受干扰,导致NMOS误动作,增加开关损耗。 使用专用栅极驱动芯片(如IR2104、TPS28225),提供足够的驱动电流和电压。 PWM 控制 NMOS 开关电路发热,多因 NMOS 未工作在理想开关状态。一是导通电阻过大,选管时 Rds (on) 未匹配电流需求,导通时损耗发热;二是开关损耗高,PWM 频率过高或驱动电压不足,导致 NMOS 开关速度慢,在半导通状态耗电大;三是续流回路异常,如续流二极管反向恢复慢,产生额外功耗;此外,负载电流超 NMOS 额定值也会过热。 PWM 控制 NMOS 开关电路发热,多因 NMOS 开关损耗过大。可能是导通电阻大,导通时功耗高;或开关频率过高,开关损耗增加;也可能驱动不足,导致开关速度慢,过渡损耗大;还可能散热不良,热量无法及时散发。 PWM 控制 NMOS 开关电路发热,多因 NMOS 未完全导通(导通电阻大)、开关频率过高导致切换损耗大、驱动电压不足使导通延迟、负载电流过大超出额定值,或散热设计不良。需检查驱动电路、频率设置及散热措施。
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