Uriah 发表于 2025-4-17 07:14

STM32G4的ADC精准度真的能打吗？

高速采样时误差大不大？偏移校准容易搞吗？

Clyde011 发表于 2025-4-17 07:16

精度高低和布局也有关系。

Uriah 发表于 2025-4-17 07:17

我测电池电压，误差能控制在1%。

Pulitzer 发表于 2025-4-17 07:18

用了DMA之后延迟反而低了。

Bblythe 发表于 2025-4-17 07:18

自带参考电压精度一般般。

Wordsworth 发表于 2025-4-17 07:19

电源干扰对采样影响不小。

万图 发表于 2025-4-17 07:20

Trigger触发方式选对很关键。

童雨竹 发表于 2025-4-17 07:21

差分ADC香，但代码复杂。

帛灿灿 发表于 2025-4-17 07:22

校准要做，不然偏移大。

周半梅 发表于 2025-4-17 07:23

多通道切换时候有点误差。

公羊子丹 发表于 2025-4-17 07:24

用温度补偿效果还不错。

欢乐家园 发表于 2025-4-30 23:54

对于大多数应用来说，12 位的分辨率已经足够提供高精度的测量结果。

将爱藏于深海 发表于 2025-5-15 09:50

.实际误差受参考电压稳定性、输入信号噪声、模拟输入源阻抗、PCB布局等因素影响。例如，电源噪声会导致参考电压波动，从而影响ADC转换精度。

春日负喧 发表于 2025-5-15 10:26

采样时间过短可能导致信号未稳定，造成采样值偏差；过长则可能降低转换速率，引入更多环境噪声。需根据信号频率动态调整采样时间，例如在低速高精度场景下选择较长采样时间（如144周期@36MHz ADC时钟），高速场景下适当缩短采样时间并结合平均法补偿精度损失。

温室雏菊 发表于 2025-5-15 12:00

抗混叠处理，高速采样时需对输入信号进行抗混叠处理，可通过RC滤波器抑制高频噪声，避免采样瞬间放大器输出信号产生尖峰，导致采样值偏大。

风凉 发表于 2025-5-15 15:23

确保ADC处于禁用状态（ADEN = 0），设置ADCALDIF位选择单端或差分输入校准。设置ADCAL位启动校准，等待ADCAL位自动清除表示校准完成。校准因子存储在ADC_CALFACT寄存器中，可在重新启用ADC前重新注入校准因子，避免重复校准。

故意相遇 发表于 2025-5-15 16:14

在多通道切换采样时，可能存在通道间干扰或切换延迟导致的误差，可通过优化通道切换顺序、增加采样保持时间等方式减小误差。

西洲 发表于 2025-5-15 18:00

STM32G4的ADC模块提供自动校准功能，可消除因工艺或带隙变化引起的偏移误差。校准过程中，ADC计算一个7位宽的校准因子，并应用于后续转换，直到下一次ADC断电。

白马过平川 发表于 2025-5-15 21:00

通过多次采样内部基准电压（如VREFINT），计算实际ADC转换值与理论值的偏差，进而对采样结果进行软件补偿。例如，利用ST工厂校准值和实际采样值反算VDDA电压，从而修正ADC计算式，提高采样精度。

捧一束彼岸花 发表于 2025-5-16 08:23

使用高精度、低噪声的参考电压源，并确保其驱动能力满足需求。在输入信号与ADC引脚之间添加跟随器，提高输入阻抗，避免分压效应；对高速信号进行抗混叠滤波。


页: [1]
查看完整版本: STM32G4的ADC精准度真的能打吗？