ADC采样不准确硬件修改
最近有小伙伴在用HC32L13X开发产品时遇到ADC采样不准确的问题，个人觉得这个问题在大多数的开发者中都会遇到，尤其在电池应用兼顾低功耗的场景，今天和小伙伴们分享一下。1）如下是小伙伴的电路原理图：ADC采用芯片内部电压基准
假设电池满电4.2V，功耗也在UA级别。以大家高级工程师的认知，觉得这个平平无常的电路有问题不？似乎采集得到0.5Vbat肯定能行。但是输出的结果就是采样电压不准确，甚至偏差巨大。
2）接下来我们从ADC的采样原理上来分析并做出电路的优化。
ADC采样本质把外部的电压信息通过电荷转移到ADC内部采样电容上，并得到采样电压。
我们知道电阻越大时间常数τ就越大，当时间常数τ大于ADC的采样周期，采样就会有偏差。
3）后续修改电路：
加一个pmos开关，只有在检测时才使能，兼顾低功耗要求。把采样电阻减少到150K/150K分压。
PS：有关里面的计算公式大家有疑问的可以留言共同探讨一下。
好几年前，我用的136,上面的电阻用的1M下面大约是510K,大部分时候电压测试比较准，各别时候出现一个很小的值 。同样的程序和硬件，在别的别的单片机上没出现问题， 我一直没研究明白 R2要并联电容的，降低采样电路的输出阻抗 qinlu123 发表于 2025-7-9 11:32
R2要并联电容的，降低采样电路的输出阻抗
不改电路的情况下并联一个NF级别的电容效果也是显而易见的
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