ADC 过采样问题
在STM32G474RE实现 ADC 过采样,用12 位分辨率获得 16 位分辨率的 ADC 结果 。
采用双同步模式运行 ADC1 和 ADC2 转换, STM32CubeIDE 配置:ADC1 通道 6 和 ADC2 通道 7 用于此场景 见下图。
(该应用用于电机控制,两个 ADC 用于采集来自栅极驱动芯片的相电流信号)
在没有启用 ADC 过采样模式时,12 位 ADC 功能完全正常。
但为了获得更精确的转换数据想使用 16 位过采样提升分辨率。
因此我将两个 ADC 的过采样率均设置为 16 倍。
然而结果非常异常。电机控制器运行不稳定,且 ADC 转换似乎未正确实现过采样。
我的配置可能存在错误?
检查 ADC 过采样配置是否正确。 可能过采样未正确启用。 双 ADC 不同步?ADC1 和 ADC2 的 Multimode 配置应该一致,触发源相同。 转换时间不足? 数据读取错误吧。。
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