关于ADC过采样的问题
DS里说：默认配置下 ADC 工作时钟是 32M，对应 2MHz 的转换数据率。ADC 完成一次转换需要 16 个 ADC 时钟周期。其中，采样和转换流水进行，允许前次转换和当前采样在时间上交叠。convf=adc f/16。
在 ADC 时钟设为 32M 时，转换速率是 2MHz。ADC 在降频应用时，可通过寄存器 CURRIT<1:0>降低 ADC 的功耗水平。
ADC 可工作在如下模式：单次单通道触发、连续单通道、单次 1~16 通道扫描、连续 1~16 通道扫描。
我要使用2MSPS采样，两个采样数据求平均，最终得到1MSPS的采样速度和更高的精度。
1、用1MHZ的定时器，设置ADC连续采样两次，并求平均
2、用2MHZ的定时器，设置ADC单次采样，再每两个求平均
第一种方法是否会因为流水线，让两个要平均的采样点在采样时间上靠得更近，造成总体采样点不均匀，而第二种方法总体采样点均匀？哪种好？
另外DS、UM里都找不到寄存器 CURRIT的描述，只有这一处提到了
文档里也没有晶体电容的描述，不过库代码里面有 信号处理中，均匀采样是基础，有利于后续的滤波、FFT等处理。 方法1的优点在于采样点时间间隔非常短，可以减少因外部干扰引起的误差，提高精度。但由于两个采样点时间间隔太短，可能会导致总体采样点不均匀。 利用ADC流水线特性，通过1MHz定时器触发连续两次采样，硬件自动保证时间均匀性，软件处理简单。 虽然可以降低定时器频率，但采样点不均匀，可能引入信号处理问题。 两次采样的数据更容易保持一致性，有助于提高精度。 采样和转换流水进行，即前次转换和当前采样在时间上可以重叠 采样点时间间隔非常短，可以减少因外部干扰引起的误差。 两次采样几乎连续，然后等待1µs再触发下一组。这样采样点在时间上不是均匀分布的，而是“两两一组”集中出现。 ADC设置为连续单通道模式，每次触发后连续采样两次。
每两次采样数据求平均，得到1MSPS的有效采样率。 两个采样点的时间间隔适中，可以更好地捕捉信号的变化。 两个采样点在时间上非常接近，可能会导致总体采样点不均匀。 采样点时间分布均匀，平均后的噪声抑制效果更优，精度提升更显著。 如果外部信号变化较慢，两次采样的数据差异较小，影响平均值的效果。 通过平均两个采样值，可以在不降低采样率的情况下提高信噪比和精度。 定时器 + ADC连续采样两次，求平均 利用ADC流水线特性，保证采样点时间均匀性 结合DMA和中断处理，实现高效、稳定的1MSPS采样系统。 通过对每两个采样数据求平均，可以有效降低噪声，提高采样精度。
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