StarrismNE 发表于 2025-10-2 09:45

如何进行小芯片的测试和良率控制，以降低整个芯片的制造成本和风险？

在采用 Chiplet 技术的芯片制造过程中，如何进行小芯片的测试和良率控制，以降低整个芯片的制造成本和风险？
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