Nevermore4030 发表于 2014-8-21 16:53

nandflash稳定性问题

nandflash 做上万次的读写测试过程中发生过位翻转，但是ECC可以纠正，测试通过。但是做不停的断电重启测试，nand就会发生不可纠正的ECC错误。做过nand同志们，求指导

ARM小白 发表于 2014-8-21 17:45

这个确实可能有问题的，一般像4412这样比较新的处理器，已经开始用EMMC了，实际测试效果就好多了

Nevermore4030 发表于 2014-8-21 17:50

ARM小白 发表于 2014-8-21 17:45 static/image/common/back.gif
这个确实可能有问题的，一般像4412这样比较新的处理器，已经开始用EMMC了，实际测试效果就好多了 ...

问题出在哪里 不太好分析

aozima 发表于 2014-8-21 20:05

断电重启，则可能某次写的过程并没有完全，这种情况，不管是不是NAND，都会有问题。
ECC的纠正是建立在数据正确写入的情况下。

ARM小白 发表于 2014-8-21 20:21

楼上说的对，首先写入要正确，其次NAND在长期使用以后，错误率会越来越大

Nevermore4030 发表于 2014-8-22 14:38

aozima 发表于 2014-8-21 20:05 static/image/common/back.gif
断电重启，则可能某次写的过程并没有完全，这种情况，不管是不是NAND，都会有问题。
ECC的纠正是建立在数据 ...

产品不是都是要这么测试吗

Nevermore4030 发表于 2014-8-22 14:39

ARM小白 发表于 2014-8-21 20:21 static/image/common/back.gif
楼上说的对，首先写入要正确，其次NAND在长期使用以后，错误率会越来越大

文件系统有日志的，是可以忍受断电的

lowe0822 发表于 2014-8-23 11:03

楼主所指的断电重启测试可否具体讲一下过程。

我也正在做相同测试，遇到类似问题。

Nevermore4030 发表于 2014-8-25 10:49

lowe0822 发表于 2014-8-23 11:03 static/image/common/back.gif
楼主所指的断电重启测试可否具体讲一下过程。

我也正在做相同测试，遇到类似问题。 ...

就是用555加开关管做的设备，一定时间后断电，再上电。

likazhou 发表于 2014-8-27 14:18

数据量很大吗？不可以用NOR吗？

Nevermore4030 发表于 2014-8-29 17:33

likazhou 发表于 2014-8-27 14:18 static/image/common/back.gif
数据量很大吗？不可以用NOR吗？

Android.不过问题基本解决的差不多了

大神菜鸟和小白 发表于 2015-1-4 20:47

怎么测试nand flash的稳定性啊？

ziweidoushu 发表于 2017-1-24 14:43

你好，楼主，我在用nandflash过程出站了随机翻转，你是怎么解决的啊
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