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标题: STM32F03x提高ADC精度的问题 [打印本页]

作者: seanwu 时间: 2014-10-1 11:52
标题: STM32F03x提高ADC精度的问题
ST的 AN2834 文档中介绍了一些提高ADC精度的方法，但是没有提到利用内部参考电压校准（VREFINT_CAL）和内部温度传感器校准（TS_CAL1、TS_CAL2）。是这种校准意义不大吗？

从STM32F031的datasheet上看，这些校准数据（VREFINT_CAL，TS_CAL1）的获取条件：Raw data acquired at a temperature of 30 °C (+/-5 °C), VDDA = 3.3 V (+/-10 mV)。觉得内部参考电压校准还算靠谱，内部温度传感器校准就非常不靠谱了，测试条件偏差太大。
从STM32F030的datasheet上看，这些校准数据（VREFINT_CAL，TS_CAL1）的获取条件：Raw data acquired at temperature of 30 °C VDDA= 3.3 V。觉得也不靠谱，条件怎能不提供一个误差范围呢？

不知大家实际使用的时候，用不用厂家的校准数据？

作者: 搞IT的 时间: 2014-10-5 12:25
必须得用啊

作者: seanwu 时间: 2014-11-30 19:31
本帖最后由 seanwu 于 2014-11-30 20:16 编辑

今天拿多颗芯片做了一下测试，发现STM32F030xx芯片的VREFINT_CAL和TS_CAL1基本上没有用处，误差太大。
在使用VREFINT_CAL和TS_CALx的情况下，电压误差超过1%，温度误差超过5度。（也有个别芯片的某一项是准确的，误差在0.1%左右，ADC计算出的电压与UT61E万用表测量值对比）
不知大家使用的情况怎样？

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