本帖最后由 香水城 于 2017-8-17 14:04 编辑
上电缓慢导致复位不良
问题:
该问题由某客户提出,发生在 STM32F103VBT6 器件上。据其工程师讲述:其产品在老化测试中出现个 别样机通电后不工作的现象。对该样机重新通电,可以恢复正常。但在后续的测试中还会偶尔重现不 工作的现象,呈现很强的随机性。
调研:
检查其硬件设计,未发现其它异常,只有 VDD 和地之间的滤波电容为 470uF,略显偏大。 将该电容替换成 220uF 后,重新测试,未见前述现象重现。
结论:
过大的滤波电容导致上电缓慢,从而引发复位不良。
处理:
重新选取该元件的参数,以满足上电复位的要求。
建议:
为了进一步阐明该问题形成的原因,以下对上电过程做一个简单的分析。在通常的应用中,STM32 的 电源是由线性调压路提供的,一般的形式如图(一)所示:
在上电的瞬间,LDO 中的调整管由于高度的导通而工作在线性电阻区,于是该电路可以等效于图(二)所示电路:
同负载 RL相比,LDO 的导通电阻 R 很小,所以可以乎略负载的影响。于是 VDD 的上电曲线为
如图(三)所示:
该曲线的上升速率由时间常数τ=RC 决定。而一般情况下,对 STM32 的复位引脚 NRST 的处理如图(四)所示:
上电时,电源VDD通过Rnrst和STM32内部的Rpu向电容Cnrst充电,其充电曲线为
对应的PDF:上电缓慢导致复位不良
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