不知STM32的ADC是否以后有差分带增益功能

2万 · 2008-1-15 22:07

像AVR,C8051F单片机等都差分带增益的ADC

差分带增益的ADC主要用于测量电流或电位差.

由于电压基准Vref都很低,一般<=VCC.而输出的测量电压一般都大于Vref.

所以在ADC的管脚输入前要先衰减即分压.但分压必然带来原测试点分辨率的降低.

要想显示或输出测试结果,必须设置软件增益才能得到原值.

由于模拟衰减和数字增益的差异,精度就损失很多.所以12位的ADC实际上也是不能满足要求的.

这在测试电位差(或电流)上反映最为明显.

举个高压侧电流检测的应用:

假使采样电阻为20毫欧,电流为1A,则两端电压差为20mV.但电压在12V左右.

假如Vref=3V.则必须1/4分压才能满足<=Vref和IO高压钳位的条件.

那么,本来的电差20mV也被1/4即只有5mV.

所以5mV/3000mV得到的转换结果为4096*5/3000=6.8

哈哈~~~那么电流为0.1A时,转换结果为4096*0.5/3000=0.68--->晕!!!这给谁看???

如果内部带增益差分就会大大提高采样的精度而不需要外部差分放大...

提点意见供香主参考~~~想想AVR,C8051F单片机活的是否有道理???

1万 · 2008-1-15 22:18

还是大叔了解俺，俺是学计算机的，不是学电子的，但这堂课俺听懂了，可以跟法国人理论理论了。

谢谢，谢谢，谢谢！

2万 · 2008-1-15 22:35

LM的ADC就带差分功能,但未见带增益的.

当测试电位差不带差分,STM32就必须把2个电位的信号接到ADC1/ADC2上同时测试,然后进行软件减法处理.

虽然STM32可以暂时躲过"差分"这一关,但软件的编程难度肯定要增大.

如果用1路2次测试再软件减法处理,那么2次采样间隔肯定会有不小的误差,除非很快忽略不计~~~

外围的高压侧电流检测,差分增益的ADC芯片好的都在40元左右
如果STM32带此功能即使贵10元也有人觉得这是"白菜价"~~~