1) 资料中说的每次上电校准到底是指每次系统上电后校准AD,还是指每次AD上电(ADON由0->1)时都必须要校准?? 这个DATASHEET里没有明确指出. 如果每次上电到校准的话,那可烦躁了.一次需要83个ADC CLK.
我测了一下,如果第一次上电(ADON=1)不进行校准就进行AD转换的话,得出的AD码会有一个偏差,而这个偏差就是校准后硬件往ADx->DR中写入的值.后面的好象校不校准都没有出现偏差..
2)我在使用ADC时,使用一个AD的两个通道进行连续的扫描.(CONT=1,SCAN=1),然后结合DMA,当连续转换256个数据后(数组内奇数为通道1数据,偶数为通道2数据),产生DMA传输完成中断. 在中断中关闭AD.(ADON=0).
请问采用连续转换时还有的方法来停止采样吗?? 因为关闭AD后,下次上电如果还需要校准,那就会浪费一些时间.启动采样是在中断中完成的.比较敏感.
另外,当一次256数据传完后,我关闭了AD. 间隔一段时间后.我再启动AD测量时,DMA功能就没有了...必须调用DMA_DeInit()和DMA_Init()来重新配置一次.才可以. 有什么方法可以直接再使用上一次配置的DMA吗?
每次启动采样时,这个再加上校准需要耗费18us左右.
请教高人解答 : )
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