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为什么用I/O模拟A/D转换时总一个点是非线性的!

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大漠胡杨|  楼主 | 2007-12-15 23:22 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
本要用20C的片子,使用PORTD0,PORTD1通过给电容充电模拟A/D转换,但在调节电位器的过程中总有一个点读出的A/D值是非线性的,请教各位指导????
沙发
warm_ice| | 2007-12-17 08:43 | 只看该作者

希望能说明的具体些

不是太明白您的意思,能否说的再具体些? 用I/O充放电模拟A/D的过程中,各个元器件的参数选择都有些要求,选择的不合适或是程序处理的不好都可能会出现问题.

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板凳
大漠胡杨|  楼主 | 2007-12-19 08:57 | 只看该作者

具体是这样的

  本人想采用I/O口对RC充电电路模拟A/D转换,如附件图中调节1M的电位器进行电容的匹配选择,电容选择好后,调整200K电位器,但在200K的调节范围内,总有一个点读出的数不是线性的,其值会变的很大,但这个点后其它的点却是正常的。这样的情况在200K的电位器调节范围内最多有3个点是这样的。请指教这种情况是怎么会事,如何解决及这种工作方式时参数的注意事项。谢谢

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地板
warm_ice| | 2007-12-19 09:38 | 只看该作者

这样

以我的经验,用I/O去模拟A/D的过程,我的电路部分通常将参考电阻和测试电阻(如热敏电阻)分别接到I/O口,然后另一端共起来,接电容,这样来设计.

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大漠胡杨|  楼主 | 2007-12-19 23:29 | 只看该作者

能讲的再清晰一些吗?

感谢warm_ice!能说的再明白一些吗?我想问的是对于电阻和电容的参数如何选择?有何要求,
其二,使用晶振的这两个口,做i/o口用时,与其它的i/o口有没有不同的地方。
我现在的问题是读200K电阻的过程中,总有一个点读出的数是非线性的! 

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warm_ice| | 2007-12-20 09:42 | 只看该作者

这样

参考电阻的选择主要是看待测电阻的范围,您关注哪段值,就选接近这个附近的值做参考值即可.

电容的选择主要是看测试的精度要求,理论上讲,电容越大,充放电时间越长,测试越谁,但实际上会考虑时效的问题,不能做的过长,当然,电容的选择也要考虑参考电阻及测试电阻值的大小.

20C振荡口复用为I/O用,与其它I/O没什么区别.

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pheavecn| | 2007-12-21 17:05 | 只看该作者

肯定是程序的问题。

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yewuyi| | 2007-12-27 17:20 | 只看该作者

~~,偷笑一下^^

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