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[开关电源]

电源完整性问题以及改进思路分析2

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jenny520|  楼主 | 2015-9-23 16:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
电源完整性, 电感, EDA, 压降, 器件
在本文的第一部分里，详细介绍了电源完整性的基本概念，以及环路电感、L×(di/dt)和工艺对电源完整性的影响等。这里，将详细介绍电源完整性设计中的最优IR压降方法，以及片上电感对电源完整性所带来的影响。另外，还将详细介绍像45nm这类更新的工艺节点上，电源完整性经常存在的导致器件良率下降的问题，包括呈2次方或指数式增长的L×(di/dt)噪声，全面电源完整性技术和EDA工具的严重缺乏，无法清楚地理解芯片电源完整性等等。最后将讨论针对上述这些问题的可能解决方法。
更多精彩就在附件里，有兴趣的可以下载看看！

电源完整性问题以及改进思路分析2.pdf

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