EEPROM调试问题

只看该作者 · 2009-3-16 21:38

请问在用BDM调试时，数据写入LASH模拟EEPORM的里面。

在下次重新BDM调试时，可不可以不擦除EEPROM里的数据啊？？？

这样有利于查找问题所在，并且可以用EEPROM来记录问题。

请老师指点，有没有什么方式或方法可以实现这一目的。

谢谢老师！

2万 · 2009-3-16 21:47

只看该作者 · 2009-3-17 09:16

楼主的需求理论上是可以实现的，如果Flash区本身没有被安全加密。但BDM工具好像不支持Flash部分擦除的功能，目前的调试环境只能实现芯片整体擦除，故原先作为EEPROM模拟的Flash内容无法保持。

只看该作者 · 2009-3-17 09:40

谢谢张老师的指点。

我明白怎么做了。

只看该作者 · 2009-4-6 21:22

可以的。

只看该作者 · 2009-4-6 21:38

如何实现？

只看该作者 · 2009-5-29 19:28

用P&E的仿真器是可以的
第二次进入不要擦除flash就行了。在CW的调试窗口里可以看到EEPROM里的数据。我们这样试过的。

我想肯定能采用“FLASH二次写入技术”～～～