调试背景：
1、硬件，MSP430I2041,A1+/A1-,A2+/A2-.
A1+接10-1150mV的待测信号；A1-接地。
A2+/A2- 都接地（观察AD采集的稳定性）。
MSP-FET430UIF进行仿真并提供电源。
2、软件，TI官方例程，MSP430i20xx_Code_Examples\C\msp430i20xx_sd24_05\msp430i20xx_sd24_05.c(MSP430i20xx Demo - SD24, Single Conversion on a Single Channel, Use ISR)。
中断部分代码为：
case SD24IV_SD24MEM1:
// Get high word result
SD24CCTL1 &= ~SD24LSBACC;
highResult = SD24MEM1;
// Get low word result
SD24CCTL1 |= SD24LSBACC;
lowResult = SD24MEM1;
SD24CCTL1 &= ~SD24LSBACC;
results = (highResult << 8) | lowResult; // Save CH1 results (clears IFG)
break;
调试结果：
得到采集数据如：0xFF424E...
问题总结：
且不论数据的准确性。我在一个点上采多次，每次都不一样，24位数据只有高12位是稳定不变的，低12位每次采集数据都不一样。
尝试解决：
1、内部基准不准，借助5522A提供精确基准电压1.2V。测量CH2接地通道，得到的测试结果没有明显改善；
2、采集信号有波动，使用内部基准，由5522A提供CH1采集信号，结果类似；
3、GND上有干扰，由于需仿真观察结果，现没有测试。
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以上为我现在遇到的麻烦，头一次接触SD24，测试过程中有什么问题还希望大家能给出些指点，完全没有头绪了:Q
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楼主
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