AT-PMU是高性能和高并行I-V源/测试仪器，可用作台式I-V特性工具或作为复合的半导体器件表征。AT-PMU是具有高并行体系结构以及集成开关矩阵和高采样率、高分辨率的测试测量装置，这些特点使得它成为执行并行测试的无与伦比的测试解决方案。
快速简便用于实验室
AT-PMU为实验室或台式使用提供了高性能完整的I-V 测试解决方案，并提供了无与伦比的易用性，高精度和高速率。
基于高并行性（2或8个I-V测试单元）以及集成了开关矩阵，我们无需重新布线就可以迅速地评估16个I-V特性。
高采样率 (65MSamples/s)加上可编程硬件平均使得用户可以在测量速度和测量精度之间取得一致。由于其低寄生架构，AT-PMU拥有竞争者同样测试时间下10x至100x更好的测试精度或同样精度下10x至100x更快的测试时间。
用于复杂的测试系统
AT-PMU特性与外部仪器严格的集成，其可作为复杂半导体器件特性的完整测试系统。
由于其集成开关矩阵的灵活性，AT-PMU能迅速将每个I/O引脚布局成与外部仪器串行或并行方式而无需重新布线。这样，其高性能源/测试资源可以在所有通道间共享。
同步和并行测试性能
由于使用了AT-XSS总线，8个AT-PMU仪器可连接成主从配置结构，能听提供高达128个I/O和64个并行测试单元。
通过AT-XSS 同步时钟线可确保严格定时同步。
I-V测试单元
每个仪器带有2个并行的电压源和2个并行的电流源，它们能被共享到所有通道。每个I-V测试单元能提供：
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12位或14位精度
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65 MSamples/s 最大采样率
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2 kSamples双端口存储器用于“很忙”测试
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1 MSamples单端口存储器用于“像示波器”测试
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可编程硬件平均
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可编程采样频率
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电压或电流测试模式
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2个电流满量程：±100µA和±500µA
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2个电压满量程：±1.2V和±12V
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单次触发或附加触发模式
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可编程触发测试长度
用作电压/电流源
每个仪器带有2个并行的电压源和2个并行的电流源，它们能被共享到所有通道。这些源能提供：
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16位精度
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±10V 电压范围
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2个电流满量程：±50µA, ±500µA
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快速更新速率：高于1MSps
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快速建立时间： 10µs至0.003%
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