ARM JTAG 调试原理以及相关源代码包（完整版）
1 前言
这篇**主要介绍ARM JTAG 调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS
PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI 详细
介绍了的JTAG 调试原理。
这篇**主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARM JTAG 调试的网友们
有所帮助。我个人对ARM JTAG 的理解还不是很透彻，在**中，难免会有偏失和不准确的地
方，希望精通JTAG 调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时
也欢迎对ARM JTAG 调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
下载路径：
ARM JTAG 调试原理.pdfARM JTAG 调试原理.pdf (文件大小:501K)
ARM JTAG调试原理完整源代码包.rarARM JTAG调试原理完整源代码包.rar (文件大小:273K |
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