ARM JTAG 调试原理以及相关源代码包(完整版)
1 前言
这篇**主要介绍ARM JTAG 调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS
PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI 详细
介绍了的JTAG 调试原理。
这篇**主要是总结了前段时间的一些心得体会,希望对想了解ARM JTAG 调试的网友们
有所帮助。我个人对ARM JTAG 的理解还不是很透彻,在**中,难免会有偏失和不准确的地
方,希望精通JTAG 调试原理的大侠们不要拍砖,有什么问题提出来,我一定尽力纠正。同时
也欢迎对ARM JTAG 调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
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