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27. CRC - 循环冗余校验发生器 27.1 特点 。循环冗余校验(CRC)生产并检验： 。通讯数据 。程序或数据在flash中的存贮 。数据在SRAM和I/O存贮空间 。同flash存贮器，DMA控制器和CPU集成在一起 。在数据通过一个DMA通道时连续的CRC校验 。Flash存贮器的全部或可选范围的自动CRC校验 。CPU可以通过I/O接口载入数扰到CRC发生器 。CRC多项软件选择 。CRC-16(CRC-CCITT) 。CRC-32(IEEE 802.3) 。多余零检测 27.2 概述 循环冗余校验是一种用于在数据中查找意外错误的错误检测技术测试算法，并对数据进行了误差检测它通常被用来确定数据传输的正确性，以及在数据和程序中出现的数据。一个数据流或或一个数据块作为输入，并产生一个16或32位的输出，可以附加的数据作为校验。当相同的数据被接收或读取时，该设备或应用程序重复计算。如果新的CRC结果不匹配一个较早的计算，该块包含一个数据错误。 该应用程序将检测到该应用程序，并可能采取纠正措施，如要求将数据发送到或根本不使用不正确的数据。 通常，一个n位CRC校验码适用于任意长度的数据块将检测任何单一不超过n位的突发差错。(任何单一的改变不会超过数据的n位)，检测所有总长为分数1-2的负n次方的突发错误。在XMEGA设备中CRC模块支持两种通用的CRC多项式；CRC-16(CRC-CCITT)和CRC-32(IEEE 802.3)
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