怎么检测300个点的高低电平

发表于 2009-10-27 13:46

电子刚入门。请教大家怎么检测300个点的高低电平，或者说开关的开断。

发表于 2009-10-27 13:52

一起还是分散...

发表于 2009-10-27 14:46

扩展数字口到300个，8位机一次测8个口，16位机一次测16个口，32位机一次测32个口，

发表于 2009-10-27 15:09

一起还是分散...
huangqi412 发表于 2009-10-27 13:52

应该算分散的吧。就是相当于300个独立按键，要看哪个键接通或断开。

发表于 2009-10-27 15:12

扩展数字口到300个，8位机一次测8个口，16位机一次测16个口，32位机一次测32个口，
DONGXU 发表于 2009-10-27 14:46

用8位的at89s51,用74hc151来扩展行不行？另外加74hc244做总线驱动。六位地址线，一个完整IO口做数据采集。
用定时器中断进行数据采集，每50毫秒进行一次。

行吗？

发表于 2009-10-28 16:04

提个方案供大家讨论：把这些开关量当做并行的信号，给转成串行的。前提是给这些开关量分组编号。

发表于 2009-11-9 13:50

我现在用的是74hc244做驱动，74hc151来选通数据
P00——P05做地址线，P20——P27做数据输入端

发表于 2009-11-9 14:01

吧320个数据分成8组（8个采集板），每组40个，每块板用5+1快74hc151，每块板每次往外送一个数据，所以P0口的00——05从000000变到111111（0x00到0x29）就可以吧320个数据读入。
由于C51数组元素不能是位变量，所以8个数据作为一个字节来存放。
当然给这 320个开关量编号（1-320），那么第一个数组元素dat[0]存放的就是1号，41号，81号，121号，161号，201号，241号，281号这八个数据。数组dat下标为0——39，共40个元素。

大家看看，这样是否合理。

发表于 2009-11-13 23:34

分时点阵扫描，具体怎么做，方式很多种，如果你用8位机，选成38行*8列的好像做起来舒服些。一次读入8列。读38次就好了。

发表于 2009-11-14 07:51

ls正解省时省IO

发表于 2009-11-14 14:41

16×20或8×38（或8×40）的矩阵扫描，应该都可以

发表于 2009-11-17 09:50

谢谢各位，由于我用的是51，所以用了8*40的方案，就是像我八楼说的那样做的，用的芯片也是那样。

怎么检测300个点的高低电平

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