请问一下STM32的ADC问题

只看该作者 · 2010-1-6 17:14

我要用STM32F103的ADC去采集数据，为了避免MCU的个体差异，需要校准ADC。但ST的手册看半天也没看明白那个自动校准到底是怎么一回事。我的理解不知道对不对：
1、这个自动校准应该是把ADC的输入接到地，然后转换出结果，那个结果应该是包括了OFFSET error在内的误差对吗？
2、这个结果永远>=0?如果不，那用什么方式来表示负的？
3、到底我要不要去读这个校准结果,是校准后只要我不掉电，每次ADC帮我自动加减得出精确的结果，还是要我自己写程序把ADC转换数据加上还是减去它来得到最终的结果？
此外还想请教一下各位DX，ADC部分的外围电路应该怎么设计误差最小？我就用来测几个大概0-3V输出的传感器,大概1个毫秒检测一次。
PS:由于我担心同一个传感器同一个输出值，到了不同的MCU上，ADC的读数都会有偏差，所以想先测出每一个MCU的OFFSET，如果这个自动校准帮我做了这些当然最好。只是ST的手册说的实在是太含糊了，怎么也没弄清楚。

1万 · 2010-1-6 17:40

1）手册里说“启动校准前，ADC必须处于关电状态”，也就是说ADC引脚根本不起作用，随便你怎么接。
手册里还说“在校准期间，在每个电容器上都会计算出一个误差修正码(数字值)，这个码用于消除在随后的转换中每个电容器上产生的误差。”关于ADC的误差种类，请看ST的应用笔记AN2834 - How to get the best ADC accuracy in STM32F10xxx devices；关于误差范围，请看对应产品的数据手册。

2、3）手册里说，ADC的校准是自校准，即校准的结果由ADC自己使用，你不必理会。

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ADC部分的外围电路应该怎么设计误差最小？这个问题请参考上面给出的AN2834。

由于我担心同一个传感器同一个输出值，到了不同的MCU上，ADC的读数都会有偏差。我认为这个担心是多余的，除非你要求的精度超出了STM32的范围，那将意味着STM32不适合你的应用。

1万 · 2010-1-6 19:35

香主解释的好详细啊

请问一下STM32的ADC问题

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