ADC的过采样来提高测量精度

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 楼主| laslison 发表于 2010-1-18 22:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
ADC的过采样来提高测量精度
也就是当使用位数低的ADC时,应当通过过采样来提高采样速率;每过采样4倍可提高一位的测量精度?
David_ming 发表于 2010-1-18 22:30 | 显示全部楼层
不是,过采样是有条件的,就是必须加入高斯噪声,可以加在ref端,而且噪声的幅度也是要控制的
David_ming 发表于 2010-1-18 22:32 | 显示全部楼层
理论上位数可以做到很大,但是是以时间为代价的,像是模拟德尔塔西格玛型ADC
 楼主| laslison 发表于 2010-1-20 23:26 | 显示全部楼层
谢谢,上面那位
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