EOS可能产生原因：
1. 测试电压或电流超过 datasheet所定之最大值。
2. 测试电压不稳造成 Over-voltage(过高电压) 或 Over-current (过高电流)
3. NOISE导致 IC Latch up.
4. 测试时IC方向误放.
为防止EOS现象发生，而导致大电流与大电压Damage IC。建议采用如下措施：
1. 测试电压与测试电流都不应超过datasheet的最大值.
2. 应保持测试时电压稳定，避免产生Transient voltage偏压而Damage IC.
3. 各测试工具应做如下要求：
(a). 于测试工具上，在所有input pad至vss的路径上，加 3.3v Zener doide做稳压保护
(b). 于测试工具上，在所有output pad至vdd的路径上，加 diode做保护。
(c). 于测试工具上，将接触VSS pin之探针加长，使得测试时保证VSS pad必先接地。
(d). 避免火线测试，在放上PCB前请先power off，放妥PCB后，再power on进行测试；
而测试完后先power off再将PCB取下。
4. 注意生产作业管制(机台，焊烙铁是否漏电)。
5. 防止IC测试时脚位误放。
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