本帖最后由 znmcu 于 2016-6-28 16:16 编辑
振南电子 ZN-X开发板技术支持QQ群: 177856520
振南 SD卡、FAT32文件系统、嵌入式存储技术交流QQ群:198521880
关于ZN-X开发板,有一个很重要的问题一直困扰着我和用户,那就是:如何方便快速地对板上的所有硬件资源进行测试,也就是“整板”测试。通过它来检查和确认板上硬件是否完好,是否可以正常工作。如果有问题,能够快速定位问题。这对于振南开发板的批量化生产加工、测试、发货有很大的好处,可以让工作效率有很大提高,另一方面,对于开发板的使用者来说,也可以全面快速的验证开发板是否OK,是否在物流或自己的使用过程中造成了损坏。 振南ZN-X开发板上包含了很多的实验资源,比如TFT液晶、SD卡、ADC/DAC、点阵屏、数码管等等,总共算下来足有近20种。我们要把所有模块全部插接到ZN-X的基板上,对各个功能统一的逐个进行测试。 一种最原始最笨的办法就是把各个功能的测试程序,一个个地烧到开发板上。要完成近20个功能的测试,我们就需要烧录20次。这个工作量是比较大的,而且是重复性的劳动,乏味无趣。 所以,我们提出了“整板测试”的概念。我们开发一个高度集成化的综合性的实验,它包含了开发板上所有功能的驱动,这个程序烧到开发板之后,我们通过某种接口,来灵活调用各个功能,从而完成对所有功能的统一化的测试。 有人曾经提出过这样的问题:“ZN-X开发板的那么多的模块,可以一股脑地全部插到基板上去吗,并且还要让它们能够同时工作起来,这看似有点困难,因为单片机的IO数量是有限的!!”回答是:“振南在设计ZN-X之初,就已经深入而全面的考虑了多个功能模块共同占用IO,又能够同时工作的实现方案。比如SD卡、spiFLASH、TFT液晶、摄像头....等等,同时接起来,互不影响的协同工作。这涉及到IO与总线的深度复用,一条SPI或并行总线上,通过选通和编址,基于三态的原理,实现了挂接多个功能模块,对IO资源进行分时复用。通过长期的优化和安排,最终实现了所有模块全部插上去,也能够全部正常运转起来!!” 这一问题对于整板测试是很重要的。我们不需要在测一个功能的时候,而把其它与之冲突的功能模块拿掉。对IO和总线的高度复用,使得我们可以把所有模块一次性全部插上去,然后就可以一个个地对它们进行测试了!! 这个高度集成化的综合性的实验,必然是一个很大的工程,它不光只是简单的驱动大杂烩,更重要的是它一方面涵盖了对功能模块细致深入的测试方法,针对哪个模块要使用哪种测试方法,比如对于TFT液晶,我们的测试方法就是去简单一个简单的图片或是用纯色对刷屏,再或者是显示一个色带;而对于SD卡,我们采用的测试方法则是对某一扇区进行写和读,然后比较写入读出的数据是否一致;对于点阵屏,我们可以让他显示一个点阵图形,然后肉眼观察是否显示正常。这些测试方法需要精心的设计。另一方面,这个整板测试要给人留出一个方便的接口,以便可以灵活调用到某一个测试。
|