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闩锁效应机理

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 楼主| 原罪 发表于 2016-7-13 09:26 | 显示全部楼层 |阅读模式
闩锁效应, 熔断, CMOS, MOS, 器件
在使用HCT14时，只使用到其中的两个门，由于其余输入端未使用，当时就悬空处理了，后来在调试过程中器件失效，开盖分析发现电源的键合丝熔断，地线的键合丝也熔断了，找人分析说是闩锁效应所致。在网上也看了些闩锁效应的**，但是没有搞明白为什么CMOS的输入脚悬空会激励闩锁效应。请高人指点，最好能详细一点。谢谢。
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mcu5i51 发表于 2016-7-14 15:23 | 显示全部楼层
输入大于电源电压就有可能
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