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[电路分析]

闩锁效应

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原罪|  楼主 | 2016-7-13 22:53 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
在使用HCT14时,只使用到其中的两个门,由于其余输入端未使用,当时就悬空处理了,后来在调试过程中器件失效,开盖分析发现电源的键合丝熔断,地线的键合丝也熔断了,找人分析说是闩锁效应所致。在网上也看了些闩锁效应的**,但是没有搞明白为什么CMOS的输入脚悬空会激励闩锁效应。请高人指点,最好能详细一点。谢谢。

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沙发
山东电子小菜鸟| | 2016-7-13 22:56 | 只看该作者
引脚悬空本来就是最忌讳的一件事情,你可以简单的理解为外界EMI会影响你的内部结构

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板凳
玄德| | 2016-7-14 14:05 | 只看该作者

输入引脚是高阻态,
很敏感。

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地板
qzlbwang| | 2016-7-25 11:23 | 只看该作者
CMOS电路,若输入端电压超出电源范围就容易产生“闩锁”。悬空的话就很容易满足“闩锁”条件。

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xmar| | 2016-7-25 11:33 | 只看该作者
楼主HCT14损坏恐怕不是啥闩锁效应所致, AC220V市电漏电、静电导致损坏可能性更大。现代成熟商品IC几乎没有“闩锁效应”了。除非上个世纪的IC或者自己流片不成熟的IC有可能发生闩锁效应。

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6
marshallemon| | 2016-7-25 14:03 | 只看该作者
xmar 发表于 2016-7-25 11:33
楼主HCT14损坏恐怕不是啥闩锁效应所致, AC220V市电漏电、静电导致损坏可能性更大。现代成熟商品IC几乎没有 ...

闩锁在OP中仍然存在

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