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伴随测量电压升高,AD测量噪声增大是什么原因?

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em9108|  楼主 | 2017-1-22 14:31 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
用24位AD芯片AD7768+衰减运放INA159组成的电路测量干电池,发现随着干电池电压升高,测量噪声逐渐增大。
测量电压用1.5v干电池串联,发现每增加一节电池,噪声大概增加28微伏左右。
我们之前使用sar结构的AD芯片使用相同的电路并没有这种现象
请问这是delta-sigma结构AD芯片特性还是运放特性或是其他什么原因造成的?

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沙发
zyj9490| | 2017-1-22 16:21 | 只看该作者
肯定是平方和加成的,也肯定电池有内阻也有闪炬噪声。

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板凳
戈卫东| | 2017-1-22 21:24 | 只看该作者
用电阻分压了?

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地板
fzyuan| | 2017-1-23 08:36 | 只看该作者

Δ-Σ型以及高位万用表常用的连续积分型ADC都会存在(其他类型的ADC也许同样会有,但未细想),这些ADC的噪声在零位时最低,可以远低于其参考源的噪声,
这实际上是因为其正负参考接入积分器的时间相等,而频率也远远高于ADC的数据输出率(这基本相当于斩波稳零了,斩波稳零的低频噪声密度并不会跟普通运放那样呈现1/f),就消掉大部分噪声了。
而随着信号电压的提升,这个时间越来越不对称了,所以可以消掉的噪声也就越来越少了。

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em9108|  楼主 | 2017-1-23 14:33 | 只看该作者
zyj9490 发表于 2017-1-22 16:21
肯定是平方和加成的,也肯定电池有内阻也有闪炬噪声。

电池的噪声应该是占一部分。就是不知道干电池的噪声是多少,我之前算的28微伏有误,应该是136微伏。

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em9108|  楼主 | 2017-1-23 14:34 | 只看该作者
fzyuan 发表于 2017-1-23 08:36
Δ-Σ型以及高位万用表常用的连续积分型ADC都会存在(其他类型的ADC也许同样会有,但未细想),这些ADC的 ...

回答的挺专业的,谢谢!

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manbo789| | 2017-1-23 14:59 | 只看该作者
可不可以展示一下实测数据?

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