一、测试仪器 12GHz带宽示波器 二、T卡CLK测试 1、T卡CLK原理图 图1 T卡clk原理图 测试点A——电阻靠近BB侧 测试点B——电阻远离BB侧 测试点C——卡罩内靠近T卡弹片的外延金属 2、A、B、C点CLK波形 图2 测试点A的CLK波形 图3 测试点B的CLK波形 图4 测试点C的CLK波形 结论：由上面三个点的波形可以看出，不同的点测到的波形差异很大，测试点C的波形最接近芯片内部PIN脚的波形，然而C点与芯片内部PIN脚之间还间隔了金属弹片，仍然不是芯片内部接收到的真实波形。 三、camera MIPI 测试 1、camera MIPI 原理图 图5 cameraMIPI 原理图 测试点A——靠近camera BTB座的测试点 测试点B——靠近MIPI开关的测试点 测试点C——靠近BB的测试点 2、A、B、C点MIPI DATA、CLK波形
图6 测试点A的MIPI DATA波形（上图）、CLK波形（下图）
图7 测试点B的MIPI DATA波形（上图）、CLK波形（下图）
图8 测试点C的MIPI DATA波形（上图）、CLK波形（下图） 结论：camer MIPI DATA、CLK通路上不同点的波形与T卡CLK波形很类似，靠近接收端的波形往往更圆滑。 四、总结 在信号的传输通路上，如果有串联元件、过孔等等阻抗突变点，一定要尽量将测试点靠近接收端。 | 
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