手机bug集锦！
开这么一个bug集锦主题，主要是给所有开发手机的朋友提供一个查询bug的场所，当然此bug集锦还要靠大家一起来完善啊，我只做个抛砖引玉！希望各位不要吝啬自己的技术经验啊：）另外，bug的描述格式按照如下：
bug平台：agere＋spca554[
bug现象：开机过程中，先看到lcd花屏，然后看到正确的开机**！
bug解决方案：此bug是由于在初使化lcd之前，就已经打开了lcd的背光灯，所以在正确初使化lcd后，由于lcd的内部ram是一个不定的数据，所以看到lcd花屏，当我们把开机**刷到lcd后，我们看到了正确的**图！
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Mikal：
bug平台：sc6600m
bug现象：进入拍照界面，然后退出拍照，发现触摸健无效！（类似巧克力的电容触摸健）
bug解决方案：电容触摸健接口和sensor共用一个IIC；在退出拍照后，系统对sensor做了电源关闭动作，由于sensor没有供电，sensor IIC口状态不定，影响了和他共用IIC口的电容触摸健。分析原因后，软件解决方案，在非senosr工作状态下，每次处理电容触摸健时候，打开下sensor的电源，然后处理完电容触摸健后，然后关闭sensor电压。硬件解决，加模拟开关或者是不共IIC。
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JamesCarter：
开机花屏的现象其实也可以在lcm的初始化后先将显示的buf全写为白色，这样就不是花屏，是开机先白色，再出来图案，这样应该用户可以接受的。 或者就是把背光延迟点亮。
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Jamesbond：
前一个不是BUG，点背光顺序放到LCM刷第一桢开机**后就解决[
后一个是硬件设计的BUG，IIC是总线共用的，IIC上拉一定要接系统VIO，SENSOR的VDD，AVDD可以由LDO下变供应，VIO是和BB接口的，其电源开着比关掉更不容易有LEAK CURRENT[
这是系统设计中要考虑的，VIO是整个系统IO电平的统一基准，不能随便关闭，外围IC关核心电压就可以了，核心电压的关闭通过IC自身的EN PIN使之SUSPEND比较好。强制关LDO关电源会让IC IO口状态更容易受干扰，漏电流更大
很多BUG其实都是硬件设计的考虑不周，如IO冲突（虽然可以用软件设置状态来避免），但如果中间隔离一个电阻或者三极管就稳定多了。很多系统在开机一瞬间有一个比较大的电流，可能是因为在IO INITIAL之前存在IO 冲突导致泄露电流增大，用硬件的方式把很多不稳定状态连出现的时序机会都没有[
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Mikal：
bug平台：sc6600D＋winbond99685[
bug现象：99685的OSD buffer 都是动态申请，且OSD汉字显示都是bmp图标！
在内存池少的情况下，可能会出现摄像一系列申请内存状态下memory不够，另
外OSD汉字图标占rom，且不易于灵活变化！
bug解决方案：OSD buffer改用 系统LCD buffer，OSD 汉字图标改用系统自带的字库！
这样可以在上面做出非常多的OSD花样！包括时间，动态菜单，滚动菜单等等，
并且修改方便！
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myyear1984：
对于没经验的人而言 暂时找不到解决方案 可不可以先把问题报出来呢[
我遇到的是三星 S3C2440 CPU平台的 目前想用ARM口调试 可ARM核却起不来 暂时没找原因有人碰到过类似的问题么 给点建议
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xuthus：
"强制关LDO关电源会让IC IO口状态更容易受干扰，漏电流更大"[
这个怎么理解？[52RD.com]
我是这样理解的 ， 状态不稳定可能的漏电流比IC设计的推荐稳定的状态会大（这也看情况，并不一定）， 但是，强制关闭源供给电压，在关闭电源后IC是没有任何漏电流的。 在开IC到IC的 IO状态稳定是存在漏电流的，在IO稳定后，漏电流是一样的。 所以，要考虑的是，IO状态稳定阶段所消耗的漏电流电能与由EN关IC后IC的漏电流哪个究竟更大的问题了。
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楼主
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