ChipON KF8 系列 MCU 常见问题 Q&A(五)

只看该作者 · 2017-5-30 12:38

51、 ChipON IDE 编译一直出错。
ChipON IDE 提供了便利的程序空间管理，但和其他工具存在差异。这种模式是建立在一个空间下的多个项目管理，提供了历史管理和对比功能，便于程序版本的快速对比。因此项目需要一个对应的空间，一个空间下对应多个同类项目，但也要求空间应该独立如 D 盘某目录下一个、 E 盘某目录下一个。空间可以有很多个，每次 ChipON IDE 启动可以在对话框中选择或启动后点击文件-切换工作空间-其他。 ChipON IDE 要求每个空间独立，即不能有上下级关系，如 D 盘 a 目录是个空间， a 目录下 c 目录也是个空间，这种情况会存在信息混淆，出现编译错误的信息。该错误主要来源切换工作空间时的选择空间定位，如应选择到 a，不能是 a下的某个目录，否则会在该目录下建立新的工作空间。空间的标志是目录下存在“ .metadata”文件夹。建议工作路径不能太长。
除了空间之外， ChipON IDE 采用变量仅在源文件中建立，不能在头文件中建立。如果其他文件需要使用时，在头文件中进行声明，其他文件引用该声明即可。数组大小不能超过 128
个字节(数据存贮器分区)。不建议使用指针和浮点运算，这些代码编译会占用更多的程序空间。

只看该作者 · 2017-5-30 17:33

52、 ChipON IDE 调试功能怎么用，怎么查看变量的值？
ChipON IDE 提供调试功能，如果要用到调试功能还需要注意以下几点：调试模式下的编译选择不优化模式，因此程序空间比非调试模式下代码多。调试功能还会在程序区建立监控代码，也会占用部分空间，调试模式需要将复位脚作为复位功能， IO 口功能下可能会失败。调试使用了编程口，因此代码中不应使用该口的功能，如执行输出或 AD 功能使能，甚至 PWM输出脚。编译完成在该项目的代码文件编辑区域右键选择调试方式，随后选择 ChipON 硬件仿真。这里需要注意的是 debug 的编译过程信息，在异常下查看是否提示有错误，如找不到文件。
默认的调试界面仅显示变量，但该窗口主要建立过程结果，正确的做法是打开窗口-显示视图，选择表达式，也可以显示其他如内存、寄存器。在表达式中可以粘贴变量名即完成监控。需要注意的是监控建议使用全局变量。局部变量存在空间占用，但后续代码的过程变量可能会
使用，如定义 char 型临时变量 i， int 型临时变量 j，实际为存在临时的数据空间 3 个，后续代码的执行会灵活使用该 3 个地址，即临时变量的监控结果会在查看过程中不符，这个属于正常情况

只看该作者 · 2017-5-30 17:35

53、 DEBUG 时程序程序运行，下载到芯片后不能正常运行
A:DEBUG 时选择的是“ DEBUG”模式， HEX 中包含监控代码，需要切换到”RELEASE”下编译，然后把 HEX 下载到芯片中。

只看该作者 · 2017-5-30 17:36

54、芯片在线下载不了
A: 确认 5 根下载线是否连接正常， SPDAT SPCLK 是否有电容。用万用表确认 5 根线是否老化造成断路、短路。

只看该作者 · 2017-5-30 17:37

55、电平变化中断不可靠
A: 进入中断后，需要锁存 PO 口状态，然后再清零 POIF。
__asm
MOV P0 ;锁存 P0 口状态
__endasm

只看该作者 · 2017-5-30 17:39

56、 KF8V111 P1 电平变化中断用不起来
A: KF8V111(A02)版本 P0/P1/P2 口有弱上拉功能， A01 版本只有 P0 口有弱上拉。数据手册最后有说明，注意查看

只看该作者 · 2017-5-30 17:39

57、提示芯片 ID 丢失，或者不识别
A: 这是由于芯片采用内部晶振，出厂时芯片晶振校准值存放在芯片保留区，编程时由于干扰（如 SPDAT SPCLK 接触不稳），造成校准值丢失。编程器为了防止这种异常，禁止编程。解决办法时，先把 HEX 下载到编程器，通过脱机编程重新校准芯片晶振，这样就可以正常使用了。

只看该作者 · 2017-5-30 17:40

58、芯片晶振不准
A: 用汇编编程时，需要先读取芯片校准值。详细见 DEMO 样例程序。

只看该作者 · 2017-5-30 17:41

59、在恶劣的坏境中 MCU 容易复位解决方法
A: 在强电磁干扰的情况下， MODE 脚电压一高，容易产生复位。 MODE 脚外部的复位电路尽量靠近 MCU，不宜走线过长，另外，通过加入 104 的电容和下拉 560 欧电阻到地。

只看该作者 · 2017-5-30 17:41

60、在断电后又及时上电， MCU 为什么会程序跑乱。
A: 在配置位中掉电检测没有打开，导致在断电时电容没有一下子放电干净，使 MCU 没有完全复位，又一上电后，程序没有重头开始执行，部分寄存器数据发生变化了。解决方法是打开 BOD。

只看该作者 · 2017-6-20 22:51

用汇编编程时，需要先读取芯片校准值。这个芯片校准，确实是第一次见到。