光纤光学自动测量系统

只看该作者 · 2017-6-22 15:06

光纤光学自动测量系统

问题：

某商业用户正在开发用于光纤光学数据\电信应用领域的激光和LED元器件。要求是通过自动检测系统来显示激光脉冲信号的特性。

因为需要检测的振幅变化仅为1mV，所以要求采集卡的三个通道必须有较高的垂直分辨率。目标是重复频率为1KHz---5KHz,采样率50MSPs，每通道采样10000样点。并且希望在LabVIEW环境下开发一个软件界面。

解决方案：

基于PCI总线的CompuScope 14100 A/D转换示波器卡可满足此项应用的要求：分辨率14bits、采样率100MS/s并可构成主/从模式。GaGe公司在多卡构成主/从模式方面很有研究，真正实现所有通道同步采样。GaGe公司的专利桥板技术确保从卡接收主卡的时钟和触发信号，实现同步采样。PCI总线主控功能可帮助获得所需的PRF。

3个通道、50MS/S采样率同步采样即可满足项目要求。建议在输入前使用放大器，不过，14bits垂直分辨率也可以帮助探测到1mV的电压变化。在这些参数条件下采样10000个样点需占用采样时间合计200 µs，传输时间600 µs，rearm时间90 µs（每通道30 µs）， PRF为890 µs---1.2KHz。同样，采样5000个样点PRF是2.9 KHz。这种方法可以达到此项应用的要求，因为户不经常占用3个通道，并且采集到的样点数量仍取决于该阶段。

值得注意的是,严格地说，根据上述方法计算的PRF只能应用于单任务的DOS环境下。Window的多重任务和LabVIEW的高级子程序调用功能略低于这些速度。如果板卡在单记录模式下不能与所需的PRF相匹配，则可以使用多记录模式。在该模式下，无需CPU介入，CompuScope 14100通过硬件几乎瞬时开始re-arm。因此，操作具有决定性，并且不会遗漏触发。

CompuScope LabVIEW SDK软件包可用于二次开发。程序开发由很多样点VI提供LabVIEW SDK进行启动。这些VI说明了GaGe板卡的不同功能，并且可以随意组合应用。包括前面板GUI‘s在内，缩短了程序开发时间。所有GaGe CompuScope SDK均由基于Windows应用程序的GaGeScope示波器软件标准版提供。GaGeScope专业版具有高速采集和分析的特点。