本帖最后由 香水城 于 2017-8-11 14:07 编辑
无外部高速时钟时HSE_RDY 被意外置位
前言
问题由客户提出，用户发现在STM32F103 器件上。用户在产品中使能了IWDG，在使用过程中发现当MCU被复位后，有时程序跑不下去；跟踪代码发现程序死在轮询PLL_RDY 处。用户反馈说用的就是ST库中的范例代码，怀疑STM32F103 有设计问题
调研
排查硬件供电无问题，用示波器测量NRST 发现复位信号正常，用STM32CubeMX 生成最小系统代码（时钟配置+IWDG）反复验证，未发现此问题，开始怀疑用户代码。
客户声称开发是基于ST 提供的SPL 库中自带的demo，使用SPL 中的范例代码加上IWDG 复位，确实可以复现此问题：通过调试器跟踪代码发现问题发生时HSE_RDY 位被异常置位（用户平台无外挂高速时钟源）
通过分析代码，发现SPL 库在设置时钟时会直接使能HSE，在复位若干次后HSE_RDY 位会被置位，从而导致程序（HSEStatus）按照HSE 来进行接下来的时钟配置。而SPL 中的demo 是跑在STM32F1 评估板上，而评估板自带高速时钟源，故没有此问题。
结论
在MCU 复位后HSE_ON 默认是无效，反复对其进行使能操作会导致MCU 内部的噪声积累，造成时钟检测电路误判，并由寄存器反映出来。
- 对STM32F103 来说，一旦HSE_RDY 被置位，只要不断电，无论如何复位HSE_RDY 都不会
被清除（即使失能HSE_ON）
- 对STM32F030单片机进行类似操作，也会发现同样问题，不同之处在于在HSE_RDY被置位后复位MCU，HSE_RDY位会被清除，但是一旦HSE_ON被置位，HSE_RDY同样会被置位
处理
由于用户并不需要对是否有外接高速晶振进行判断，修改用户代码不要使能HSE，反复测试后问题不复现
建议
1 要了解HSE_RDY位是用来检测是否有外部时钟存在的必要条件，而非充分条件
2在使用STM32时，一定要按照硬件设计对软件做出修改，切勿图省事而造成问题
对应的PDF: 在没有外置晶振时HSE_RDY异常置位
更多实战经验请看:【ST MCU实战经验汇总贴】
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