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数字电路的故障类型较多，产生故障的原因也各有不同，因此排除故障的方法也不一样。当电路发生故障时，根据故障现象，通过检查、测量，分析故障产生的原因并确定故障的部位，找到发生故障的元器件的过程。一般比较简单的电路，其故障原因往往也比较简单，故障的分析与定位较容易；而较为复杂的电路，其故障往往也较为复杂，故障原因的分析与定位相对也就要困难一些。下面讨论电路故障分析与定位的常用方法。 
一、直接观察法 所谓直接观察法是指不借助于任何的仪器设备，直接观察待查电路的表面来发现问题、寻找故障的方法，一般分为静态观察和通电检查两种，其中的静态观察包括如下几方面内容。 1、观察印制电路板及元器件表面是否有烧焦的印迹，连线及元器件是否有脱落、断裂等现象发生。 2、观察仪器使用情况。仪器类型选择是否合适，功能、量程的选用有无差错，共地连接的处理是否妥善等。首选排除外部故障，再进行电路本身的观察。 3、观察电路供电情况。电源的电压值和极性是否符合要求，电源是否已确实接入了电路等。 4、观察元器件安装情况。电解电容的极性、二极管和三极管的引线端子、集成电路的引线端子有无接错、漏接、互碰等情况，安装位置是否合理，对于扰源有无屏蔽措施等。 5、观察布线情况。输入和输出线、强电和弱点线、交流和直流线等是否违反布线原则。 静态观察后可进行通电检查。接通电源后，观察元器件有无发烫、冒烟等情况，变压器有无焦味或发热及异常声响。 直接观察法适用于对故障进行初步检查，可以发现一些较明细的故障。 二、仪器测试法 1、断电测试法 是在电路断电条件下，利用万用表欧姆档测量电路或元器件电阻值，借以判断故障的方法。如检查电路中连线、焊点及熔丝等是否断路，测量电阻值、电容器漏电、电感器的通断，检查半导体器件的好坏等。测试时，为了避免相关支路的影响，被测元器件的一端一般应与电路断开，同时，为了保护元器件，不要使用高阻挡和低阻挡，以防止高电压或大电流损坏电路中半导体器件的PN结。 2、带电测试法 是一种在电路带电条件下，借助于仪器测量电路中各点静态电压值或电压波形等，并进行理论分析，寻找故障所在部位的方法。如检查晶体管静态工作点是否正常，集成器件的静态参数是否符合要求，数字电路的逻辑关系是否正确等。 3、信号寻迹法 是根据需要在电路输入端加入符合要求的信号，按照信号的流程从前级到后级，用示波器或电压表等仪器逐级检查信号在电路内各部分黄子健传输的情况，分析ID安路的功能是否正常，从而判断故障所在部位。通常应在电路静态工作点处于正常的条件下使用这种方法。 4、分割测试法 对于一些有反馈的环形电路，它们各级的工作情况互有牵连，这时可以采用分割环路的方法，将反馈环去掉，然后逐级检查，可以更快的查出故障部位。对自激振荡现象也可以用这种方法检查。 5、对比法 怀疑某一电路存在问题时，可找一个相同的正常电路进行比对，将两者的状态、参数进行逐项对比，很快就可以找到电路中不正常的参数，进而分析出故障原因并查找到故障点。 6、替代法 有时故障比较隐蔽，不能很快找到，需要进一步检查，这时可用已调试好的单元电路或组件代替有疑问的单元电路，以此来判断是否出在此单元电路。在确定了有问题的单元电路后，还可以在该单元电路中采用局部替代法，用确认良好的元器件将怀疑有问题的元器件替代下来，逐步缩小故障的怀疑范围，最终找到故障点。
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