半导体行业大数据分析解决方案

只看该作者 · 2017-7-27 20:59

创新的良率管理 & 数据分析解决方案：WebSemi

我们致力于提供用户友好、功能齐全和低成本的良率和测试数据管理、统计分析、数据可视化和报表解决方案，来提高客户的良率管理和数据分析能力。

产品专门为半导体测试数据分析而设计，大数据架构（系统实测，每天数据载入量单台Sever可达50GB、超过20亿条数据，系统支持多节点集群部署）,全年可管理多达50TB以上、万亿级别的数据（实际支持能力以客户硬件资源为准），可以细致的记录每一颗Die的测试结果，并提供各种统计分析、数据可视化。

实时的SYL/SBL监控，在线任何良率异常，都会实时的报告给您。每天早晨上班之前，系统都会通过电子邮件把当天的测试小结发给您，让您第一时间掌握良率状况，也无需再大量的花时间去跟踪重要的测试结果。

现在面向国内半导体制造企业、半导体设计公司以及芯片封装测试企业，全面开放试用申请，可根据下面的联系方式联系我们。
活动期间有大幅折让，请各位网友帮忙推荐，凡经推荐成功部署的项目，直接推荐人我们都会有小额回报。

联系信息

软件网站:

· www[.]websemi-soft[.]com

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即时通讯:

· QQ: 256164358

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Hours:8:00AM-8:00PM (周一到周六)

无缝的数据集成 & 数据文件格式兼容性

· 原生地支持 STDF 测试数据格式，自动的处理 STDF 数据文件，从中提取测试良率、SoftBin、HardBin以及数值型测试数据等。

· 开放式的数据访问 API，允许客户自行开发处理数据文件、自动分析以及报表等应用。

· 并行的数据处理与导入，充分利用多核心系统资源，极大提高数据导入通量。

数据统计分析 & 数据的可视化

· 箱线图用于趋势分析以及变异性分析。

· 即时直方图和正则概率图用于数据分布分析。

· SoftBin 帕累托图用于分析主要失效项，并支持按类别分组比较。

· 散点图以及散点矩阵图用于相关性分析、以及多元线性回归分析，支持WAT/PCM、CP以及FT组间交叉分析。

· 趋势图提供良率、测试时间、SoftBin失效率、HardBin失效率以及数值型参数趋势分析。

· 分组汇总提供良率、测试时间、SoftBin失效率、HardBin失效率的分析以及分组对比分析。

· 用于数据展示的 Wafer Mapping、DUT Mapping 及其堆叠图提供 SoftBin 以及数值型参数分析。

面向企业的系统架构 & 统计良率控制

· 为大数据而准备的面向企业的软件架构，系统架构采用数据库集群系统和计算机集群文件系统的协同存储的分布式数据存储方案。

· 多站点并行写入设计，单节点支持高达 16x 写入速度以满足大量数据写入以及存储需求。

· 系统支持灵活的系统配置，支持部署最小化 ALL-IN-ONE 单机部署。对于大规模数据，系统支持负载平衡系统体系结构，提供数据库服务器、应用服务器、缓存服务器的集群配置，以提供高效稳定的服务。

· 灵活的 SYL/SBL 良率监控设置，接入企业邮件系统，提供实时的邮件通知和提醒，并提供基于邮件系统的每日 SYL/SBL 报表、良率汇总报表。

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