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描述： 高低温介电测试系统是集变温测试、变频测试于一体的全自动化测试系统。系统全面考虑了仪表配置、夹具设计、电路接线（包含室温和高低温的接线）等用户经常忽略的问题，选取了美国是德科技的电测仪表，配备灵活的测量温度环境，夹具，加上全自动化的专用测试软件，能让用户快速方便的进行样品测试，并获得准确可靠的数据。是广大科研工作者对样品进行变温变频测试研究的有力工具。 主要特征与技术指标： 1、5多种频率选件；20 Hz 至1/2/10/20/30/50/80 MHz，可升级； 2、基本阻抗测量精度：±0.08%（±0.045% 典型值）； 3、阻抗测量范围：25 mΩ 至 40 MΩ（10% 测量精度范围）； 4、温度环境：-196℃到227℃，可升级至800℃； 5、控温精度：0.1℃； 6、测试参数：介电常数、损耗正切、|Z|、|Y|、è、R、X、G、B、L、C、D、Q、Vac、Iac、Vdc、Idc 、θd、θr； 7、内置直流偏置源：0V至±40V，0A至±100 mA；可升级至高偏置1000V。 8、软件：可实现温度谱、频率谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能； 9、扫描模式：定频扫温度、定温扫频率、定温定频扫偏置等； 应用范围：无源元器件：电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器或晶体/陶瓷谐振器的阻抗测量。半导体元器件：变容二极管的 C-V 特征分析。二极管、晶体管、放大器或 MEMS 的阻抗测量。其他元器件：印刷电路板元器件的阻抗测量。介电材料：塑料、陶瓷和印刷电路板的介电常数和损耗因数测试。磁性材料：铁氧体、非晶体的导磁率和损耗因数测试。
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