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请教个耐压测量问题

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tongshaoqiang|  楼主 | 2010-10-22 10:46 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
对高压隔离产品的隔离电压测试中,我发现有的用交流有效值,有的用直流电压。
请教一下,哪个参数说明产品的隔离电压性能更好呢。
举个例子:5000vacrms  1min  跟 5000vdc  1min  哪个测试条件更可靠或者更严格呢?

比如光耦的datasheet中,VISO标注的是5000vacrms  1min ,如果我在其两端加5000vdc 1min是否可靠?

谢谢大家的指导。

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沙发
HWM| | 2010-10-22 10:57 | 只看该作者
应该是交流有效值比直流更严格(等参数条件下)。因为交流峰值会更高,另由于交变使介质更容易击穿。

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板凳
tongshaoqiang|  楼主 | 2010-10-22 10:59 | 只看该作者
本帖最后由 tongshaoqiang 于 2010-10-22 11:03 编辑

谢楼上

顺便请教HWM前辈,对于隔离耐压产品,厂家提到失效模式概念,说如果隔离产品的失效模式是开路,那么当隔离产品发生高压击穿时对产品的输入端电路或者设备没有损害。
感觉不大放心,是这么回事吗?

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地板
HWM| | 2010-10-22 13:38 | 只看该作者
to 3L:

你所说的“失效模式”可能是指产品击穿后的所呈现的状态。一般来说,通常最后是断开(否则继续大电流最终还是熔断)。既然是击穿,总存在着瞬间的大电流冲击。至于是否对设有损害,那要看设备的抗冲击能力,一般不能得出一定无损害的结论。

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maychang| | 2010-10-22 13:50 | 只看该作者
“标注的是5000vacrms  1min ,如果我在其两端加5000vdc 1min是否可靠?”
当然5kV DC 1min不如5kV AC 1min可靠,或者说5kV AC 1min比5kV DC 1min更严格。正弦交流峰值比有效值高。

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tongshaoqiang|  楼主 | 2010-10-23 07:57 | 只看该作者
感谢maychang、HWM大佬们。

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