使用TI 的28027F做FOC控制器线路讨论

只看该作者 · 2017-8-19 21:43

本帖最后由 SZYUXINAGYI 于 2017-8-19 22:15 编辑

MCU生产不良率 VDD 对地有13% 不知是何原因？MCU的供电为线性LDO 3.3V 供电.附线路图讨论;

2万 · 2017-8-19 23:07

你的意思是VDD对地静态电阻达不到值是吧

2万 · 2017-8-19 23:08

建议先别焊接电容进行测试

只看该作者 · 2017-8-20 13:24

本帖最后由 SZYUXINAGYI 于 2017-8-20 13:26 编辑

zhangmangui 发表于 2017-8-19 23:07
你的意思是VDD对地静态电阻达不到值是吧

对地只有4.3R的电阻了，判定为损坏，20K的生产就有13%的不良，相当郁闷！半成生产测试的良品中进行成品组装测试，有0.15%的DSP器件损坏，我初步认为是因为电机控制，反感电动势AD的IO口电压有过高所致，但实际测试不是这个问题，难道是静电？针对此块 TI原厂的技术支持非常少，挺无语的。

2万 · 2017-8-20 22:31

SZYUXINAGYI 发表于 2017-8-20 13:24
对地只有4.3R的电阻了，判定为损坏，20K的生产就有13%的不良，相当郁闷！半成生产测试的良品中进行成品组 ...

原厂只能是邮件了
如果焊接完就测试静态电阻出现这些问题是不合理的肯定是器件出了问题
MCU的AD口肯定是要做钳位处理的不然很容易损坏
与电机驱动肯定要做好隔离
静电的可能性比较小

2万 · 2017-8-20 22:32

建议你通过部分焊接的方式进行排查
原理图比较重要如果生成的合格品工作中也一直正常那就是器件的问题了
MCU渠道很重要

2万 · 2017-8-20 22:41

再次看了一下你的原理图工作中如果损坏那就是ADC的可能性非常大
如果生产完就不合理那就建议你拆除MCU继续量对地电阻
其实问题很好排查

只看该作者 · 2017-8-21 18:24

@zhangmangui 今天代理商的工程师过来，分析有可能是生产过程静电控制的问题，按照他的要求我下批更改生产工艺流程看是否有改善。

2万 · 2017-8-26 07:45

SZYUXINAGYI 发表于 2017-8-21 18:24
@zhangmangui 今天代理商的工程师过来，分析有可能是生产过程静电控制的问题，按照他的要求我下批更改生产 ...

我觉得静电没那么严重 MCU也不会轻易那么容易损坏啊
期待你的解决办法

只看该作者 · 2018-1-3 12:02

zhangmangui 发表于 2017-8-26 07:45
我觉得静电没那么严重 MCU也不会轻易那么容易损坏啊
期待你的解决办法 ...

在供电回路中，VDDIO VDDA中增加两个磁珠,就OK 还是瞬间的脉冲造成!

2万 · 2018-1-3 22:52

SZYUXINAGYI 发表于 2018-1-3 12:02
在供电回路中，VDDIO VDDA中增加两个磁珠,就OK 还是瞬间的脉冲造成!

好的看来LC还是有必要的