问题1: 在图25.图26中采用交流去耦,因为电容Cin引入附加相移,那么六通道同时采样时电容Cin(暂取值为1uF,考虑容值误差,特性离散等因素)在各通道间最大可能会引入多大的相差? 也就是Cin引入附加相移的不一致性(譬如有没有可能第一路超前89度而第二路超前88.9度,当然六通道间元件的参数能保证基本一致的前提下).
问题2: 在图27中采用直流去耦,REFOUT接到VINNx,那么此时输入信号VIN是相对与REFOUT还是模拟地电平? 譬如电流互感器取样信号一端接VIN,那么另一端是接REFOUT还是模拟地? 我想接的是REFOUT,也就是取样信号叠加在REFOUT上. |