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各位大哥,我想请问一下谁有8373的电路图?

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楼主
wudajun|  楼主 | 2007-7-22 12:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
沙发
tyw| | 2007-7-22 17:42 | 只看该作者

你给的信息太少了,这样是找不到东西的

至少要告知哪一类的,封装形式,几个脚


Part name, description or manufacturer contain: 
Popular Search:   1N  2N  2SA  2SC  74  AD  BA  BC  BD  BF  BU  CXA  HCF  IRF  KA  KIA  LA  LM  MC  NE  ST  STK  TDA  TL  UA  



Datasheets found :: 18 Page: 1 | 
Nr.Part NameDescriptionManufacturer
11468373Bobbin Type InductorsC&D Technologies
2CY28373Universal Single Chip Clock Solution for SiS658 Pentium®4Cypress
3G8373-01InGaAs PIN photodiodeHamamatsu Corporation
4G8373-03InGaAs PIN photodiodeHamamatsu Corporation
5SCAN18373TTransparent Latch with TRI-STATE OutputsNational Semiconductor
6SCAN18373TTransparent Latch with 3-STATE OutputsFairchild Semiconductor
7SCAN18373TSSCTransparent Latch with 3-STATE OutputsFairchild Semiconductor
8SCAN18373TSSCXTransparent Latch with 3-STATE OutputsFairchild Semiconductor
9SN54BCT8373AScan Test Devices With Octal D-type LatchesTexas Instruments
10SN54BCT8373AFKSCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHESTexas Instruments
11SN54BCT8373AJTSCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHESTexas Instruments
12SN74BCT8373AIEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal D-Type LatchesTexas Instruments
13SN74BCT8373ADWIEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal D-Type LatchesTexas Instruments
14SN74BCT8373ADWRIEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal D-Type LatchesTexas Instruments
15SN74BCT8373ANTIEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal D-Type LatchesTexas Instruments
16SNJ54BCT8373AFKScan Test Devices With Octal D-type LatchesTexas Instruments
17SNJ54BCT8373AJTScan Test Devices With Octal D-type LatchesTexas Instruments
18TDA8373I2C-bus controlled economy PAL/NTSC and NTSC TV-processorsPhilips
[TD]Page: 1 | 
Datasheets found :: 18 

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