推荐大家一款igtb测试仪

     西安谊邦电子科研人员经过连续技术攻关, 在原有YB6500高端半导体分立器件自动测试系统基础上, 自行研发出国内首台YB580X igbt测试仪，圆满解决了功率IGBT等新型半导体器件的全参数测试难题,填补了国内在半导体自动测试领域的空白，该项产品综合技术指标达到国际领先水平。

   目前公司提供的该项新产品采用模块式功放结构, 主极电流100A,200A, 500A,1000A,1250A可选, 2500A/5000A选项可以根据用户需要定制。
    该产品可测试IGBT参数包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,r
CE等全直流参数, 所有小电流指标保证1%重复测试精度, 大电流指标保证0.5%以内重复测试精度, 达到目前国外进口同类产品领先水平。

绝缘栅晶体管、IGBT测试仪参数及精度

电参数名称	电压范围	电流范围	分辨率	精度
ICES IGESF IGESR	0.10V- 2000V 0.10V - 20V(80V)（2）	100nA(100pA)（1） - 50mA 100nA(100pA)（1）- 3A	1nA(50pA)（1）	1%+10nA+20pA/V (1%+200pA+2pA/V)（1）
BVCES	0.1V-1000V- 1400V - 1600V	100μA - 200mA -100mA -50mA	5mV	1%＋100mV
VGETH	0.10V- 20.0V(80V)（2）	100nA- 3A	5mV	1%+10mV
VCESAT ICON VGEON VF GFS(混合参数)	VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V	IC: 10μA-1250A - 1250A IGE、IF: 100nA - 10A	5mV	V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA

   

   

                          

           测试仪可针对目前封装的多单元IGBT特征, 根据用户需要提供4/ 8/ 20单元扫描测试适配器, 从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试.与进口专用测试系统相比, 该产品可同时对各种功率的其它10-18多类半导体分立器件进行全参数测试, 具有更高的使用效率。与国外同类产品相比, 该产品具有更高的性能价格比和国外厂家不能做到的优质售后服务。

主要特征简述：

★YB半导体分立器件测试仪是我公司从国外引进的国产化项目。该分立器件测试仪目前已通过国内两家计量站的综合检测认定。经过与国内其他分立器件测试系统对比使用，YB测试系统在系统硬件的可靠性、稳定性、功率范围、测试范围、系统测试精度、测试参数的一致性等多项指标已远远超过国内产品。 YB测试系统目前是国内高端最好的半导体分立器件测试仪器。

★作为精密仪器引进项目，YB半导体分立器件测试仪系统严格按照国军标产品之标准，全部选用优质可靠的元器件。系统严格按照军用整机检验标准进行测试检验，确保系统的稳定性和可靠性。YB半导体分立器件测试仪所使用的各种继电器，全部采用国外名牌公司生产的水银继电器，从而大大提高了谊邦系统的测试速度，提高了系统的使用寿命。

★服务周到是我公司的优势之一。选用YB半导体测试系统，享受YB电子服务，我们的服务可以在一小时内答复解决方案，到达用户现场当天解决系统出现的所有问题。

★YB分立器件测试仪在实际操作中，可真实达到电压2000V、电流50A的测试条件。在极限值条件下测试，系统同样保持高精度和良好的重复性、稳定性。此项指标远远领先于国内其他产品。

★本分立器件测试系统测试原理和方法符合国家相关规范和标准。

★大功率器件测试采用脉冲法测试，脉冲宽度为规定的300uS。

★YB半导体测试系统硬件设计先进，升级能力强。为用户今后做测试系统升级提供了有力的技术保障。YB元器件测试系统硬件支持电压升级到5000V，电流升级到1250A。

★系统采用先进的嵌入式计算机结构，可以实现脱机测试功能。提高了系统的可靠性和使用灵活性。

★YB分立器件测试系统和YB半导体测试夹具全部采用多级开尔文技术，采用无电缆连接设计结构，保证测试结果准确可靠。各种元器件测试夹具均由高级器件插座和高级插头采用开尔文技术连接装配，不仅确保长寿命工作，可靠性极高，无故障使用寿命在5X106次以上。使测试数据更加准确无误。

★YB半导体测试系统具有被测器件引腿接触自动判断功能。遇到器件接触不良时系统自动停止对被测器件测试，可确保被测器件不受损坏。

★真正的动态跨导测试。（国内其他元器件测试系统采用直流方法测动态跨导，测试结果与器件实际值偏差很大）。

★二极管极性自动判别测试功能，不需人工判别极性测试，方便操作。

★具有单参数测试延时编程功能，用户可根据不同器件要求选择延迟时间，增强参数测试稳定性。

★丰富的WINDOWS界面菜单编程和控制能力，方便的用户信息文件、统计文件方式，可以给出批次测试失效数量、合格数量，按实测指标分类器件数量。测试结果可以给出excel等多种形式。

。

★YB半导体测试系统设计综合美国、日本多种先进结构技术。

★承诺确保系统使用寿命可以达到十年以上，系统功能正常，参数指标符合出厂标准。

上述只列出该系统的部分常用特征。其它多种综合处理能力在使用中可以不断开发扩大。可根据用户测试使用的要求，方便地选通其他特征。